Sub-Nanometer Auflösung Belichtung mit Amplituden-Modulation der Rasterkraftmikroskopie in Liquid

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20. Dezember 2016

10.3791/54924-v

20. Dezember 2016

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Wir präsentieren ein Verfahren zum Erreichen einer Sub-Nanometer Auflösung Bilder mit Amplituden-Modulation (Tapping-Modus) Rasterkraftmikroskopie in Flüssigkeit. Das Verfahren ist auf kommerzielle Atomkraftmikroskope demonstriert. Wir erläutern die Gründe für unsere Entscheidungen von Parametern und schlagen Strategien zur Auflösung Optimierung.

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Amplitude modulation AFM

Chapters in this video

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Title

0:59

Equipment and Substrate Preparation

2:39

Cantilever and Tip Preparation

3:22

Set-up of AFM Cell and Cantilever Calibration

4:27

Approach and Initial Check of the Sample

6:31

High-resolution Imaging

8:09

Results: Sub-nanometer Resolution Imaging of Soft and Stiff Samples

9:18

Conclusion

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