ספקטרוסקופיה קיבוליות חד אלקטרונים סורקות-בדיקה

12.5K צפיות

10:53 דק'

30 ביולי 2013

10.3791/50676-v

30 ביולי 2013

12.5K צפיות

ספקטרוסקופיה הקיבול יחידה אלקטרונים סורקות-בדיקה מאפשרת חקר תנועת אלקטרון בודד מתחת לפני הקרקע באזורים מקומיים. מעגל אחראי לזיהוי רגיש הוא שולב מיקרוסקופ סריקת בדיקה קריוגני לחקור מערכות קטנות של אטומים dopant מתחת לפני השטח של דגימות מוליכים למחצה.

גלה סרטונים נוספים

Scanning Probe Microscopy

Chapters in this video

0:05

Title

1:57

Microscope Setup, Preparation, and Mounting of the High Electron Mobility Transistor Circuit

6:37

Capacitance Mode Measurements

8:05

Results: Scanning Charge Accumulation and Capacitance-voltage Spectroscopy of Doped Semiconductors

10:17

Conclusion

Related Videos