12.6K צפיות
•
10:53 דק׳
•
30 ביולי 2013
30 ביולי 2013
•ספקטרוסקופיה הקיבול יחידה אלקטרונים סורקות-בדיקה מאפשרת חקר תנועת אלקטרון בודד מתחת לפני הקרקע באזורים מקומיים. מעגל אחראי לזיהוי רגיש הוא שולב מיקרוסקופ סריקת בדיקה קריוגני לחקור מערכות קטנות של אטומים dopant מתחת לפני השטח של דגימות מוליכים למחצה.
Chapters in this video
0:05
Title
1:57
Microscope Setup, Preparation, and Mounting of the High Electron Mobility Transistor Circuit
6:37
Capacitance Mode Measurements
8:05
Results: Scanning Charge Accumulation and Capacitance-voltage Spectroscopy of Doped Semiconductors
10:17
Conclusion
Related Videos
זכויות יוצרים © 2026 MyJoVE Corporation. כל הזכויות שמורות.