13 ביוני 2023
לבדיקת דגימה בקנה מידה גדול עם רזולוציה ננומטרית יש מגוון רחב של יישומים, במיוחד עבור פרוסות מוליכים למחצה ננו-מפורקות. מיקרוסקופ כוח אטומי יכול להיות כלי נהדר למטרה זו, אך מוגבל על ידי מהירות ההדמיה שלהם. עבודה זו משתמשת במערכי קנטיליבר פעילים מקבילים ב- AFM כדי לאפשר בדיקות בתפוקה גבוהה ובקנה מידה גדול.
מיקרוסקופ בדיקה סורק המבוסס על מערכת מיקרו אלקטרומכנית חדשנית בדיקות נקראות קנטיליברות פעילות. קנטילברות עם הפעלה וחישה משולבות מספקות מספר יתרונות על פני קנטילברות פסיביות, המסתמכות על עירור פיאזואלקטרי ומדידת סטיית קרן אופטית. הפיתוח האחרון בתחום זה הוא מימוש מערכים של מזנונים פעילים להדמיית SPM מקבילית בתפוקה גבוהה.
המערכים של המזנונים הפעילים משתמשים בחיישנים פיאזו-התנגדותיים משולבים כדי להציע רגישות דומה לשיטות קריאה אופטיות ללא מגבלות עקיפה כדי לאפשר בדיקות AFM קטנות, רכות וקומפקטיות יותר. התוצאות של טכניקה זו סללו את הדרך להפעלה ובנייה של מיקרוסקופי כוח אטומי בתפוקה גבוהה באמצעות אלקטרוניקה רב-ערוצית במהירות גבוהה. ההתקדמות בטכניקה זו יכולה להקל על פעולה מהירה ואמינה יותר של מערכות פעילות מקבילות מסיביות בעתיד.
צפו בתמליל המלא וקבלו גישה לאלפי סרטונים מדעיים
מחקר זה בוחן את השימוש במערכי קנטיליוור (cantilever) אקטיביים במיקרוסקופיה של כוח אטומי (AFM) כדי לשפר את מהירות הדימוי ואת התפוקה בבדיקות של דגימות בקנה מידה גדול. שילוב של מערכות מיקרו-אלקטרו-מכניות בקנטיליוורים מאפשר רגישות ויעילות משופרות במיקרוסקופיית סריקה באמצעות גשש.
מיקרוסקופיית כוח אטומי (AFM) בתפוקה גבוהה המשתמשת במערכי קנטילברים (זרועות תמיכה) פעילים במקביל פותרת את צוואר הבקבוק של תפוקת הבדיקה בננו-קנה מידה במחקר ופיתוח של ביו-פארמה. יכולת זו מאפשרת אפיון תלת-ממדי כמותי ומהיר של פני השטח על פני שטחי דגימה רחבים, ובכך תומכת בבקרת איכות חסונה ובניתוח חומרים מתקדם. גישה זו מגבירה את הביטחון החזוי ואת היעילות התפעולית בנקודות תפנית קריטיות של גילוי ופיתוח.
שיטת ה-AFM המקבילית הזו משלבת שלבים החל מהגילוי המוקדם ועד לתיקוף חומרים פרה-קליני, ובכך מגשרת על הפער בין אפיון בקנה מידה ננומטרי לדרישות של בדיקה בשטחים נרחבים.