Waiting
Elaborazione accesso...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Engineering

È necessario avere un abbonamento a JoVE per visualizzare questo Contenuto. Accedi o inizia la tua prova gratuita.

I Dybde Analyser av lysdioder ved en kombinasjon av X-ray computertomografi (CT) og lysmikroskopi (LM) korrelert med Scanning elektronmikroskopi (SEM)
 
Click here for the English version

I Dybde Analyser av lysdioder ved en kombinasjon av X-ray computertomografi (CT) og lysmikroskopi (LM) korrelert med Scanning elektronmikroskopi (SEM)

Article DOI: 10.3791/53870-v 10:42 min June 16th, 2016
June 16th, 2016

Capitoli

Riepilogo

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

En arbeidsflyt for omfattende mikro karakterisering av aktive optiske enheter er skissert. Den inneholder strukturelle så vel som funksjonelle undersøkelser ved hjelp av CT, LM og SEM. Metoden er demonstrert for en hvit LED som kan fortsatt være i drift under karakterisering.

Tags

Engineering lysdiode X-Ray computertomografi korrelert lys- og elektronmikroskopi mikroanalyse prøveopparbeidelse utarbeidelse av tverrsnitt
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter