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混相a-VOxに基づく非対称クロスバーのバイアスと作製を用いたSitu透過電子顕微鏡
 
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混相a-VOxに基づく非対称クロスバーのバイアスと作製を用いたSitu透過電子顕微鏡

Article DOI: 10.3791/61026-v 09:49 min May 13th, 2020
May 13th, 2020

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ここでは、積層金属絶縁金属構造のための透過電子顕微鏡(TEM)を用いたその際のナノ構造変化を分析するためのプロトコルを紹介します。次世代のプログラマブルロジック回路とニューロミカシングハードウェア用の抵抗スイッチングクロスバーに重要な用途があり、その基礎となる動作機構と実用的な適用性を明らかにする。

Tags

工学、第159号、抵抗性スイッチング、その場合の透過電子顕微鏡、クロスバー、ナノ構造解析、揮発性閾値切替、非晶質バナジウム酸化物
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