Microscopia a forza atomica Nanoindentazione basata su sbalzo: misure di proprietà meccaniche su scala nanometrica in aria e fluido

La microscopia a forza atomica, o nanoindentazione a sbalzo AFM, può essere utilizzata per determinare le proprietà meccaniche su scala nanometrica di materiali che vanno dal modulo kilopascal ai gigapascal sia nell'aria che nel fluido. La nanoindentazione basata su sbalzo AFM consente l'imaging topografico colocalizzato e misurazioni quantitative delle proprietà meccaniche in situ con precisione e risoluzione su scala nanometrica su un'ampia gamma di materiali e ambienti pertinenti. La nanoindentazione basata su sbalzo AFM può essere utilizzata per distinguere tra strutture sane e malate, tessuti o cellule che presentano proprietà meccaniche divergenti.

Determinare con precisione l'area di contatto del campione di punta e la forza applicata durante la nanoindentazione basata su cantilever richiede un'attenta calibrazione della sonda AFM, che è impegnativa ma essenziale per le misurazioni quantitative delle proprietà meccaniche su scala nanometrica. Per iniziare, selezionare una microscopia a forza atomica appropriata o una sonda AFM per la nanoindentazione del campione previsto in base al mezzo, al modulo previsto, alla topografia del campione e alle dimensioni delle caratteristiche pertinenti. Caricare la sonda sul supporto della sonda e collegare il supporto della sonda alla testa di scansione AFM.