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Quantitative Atom-Standortanalyse von funktionellen Dopants/Punktdefekten in kristallinen Materialien durch Elektronenkanaling-verstärkte Mikroanalyse
 
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Quantitative Atom-Standortanalyse von funktionellen Dopants/Punktdefekten in kristallinen Materialien durch Elektronenkanaling-verstärkte Mikroanalyse

Article DOI: 10.3791/62015-v 07:24 min May 10th, 2021
May 10th, 2021

챕터

요약

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Wir bieten einen allgemeinen Überblick über quantitative Mikroanalysemethoden zur Schätzung der Standortbelegung von Verunreinigungen und deren chemischen Zuständen, indem wir Elektronenkanalisierungsphänomene unter einfallenden Elektronenstrahl-Gesteinsbedingungen nutzen, die zuverlässig Informationen von Minderheitenarten, Lichtelementen, Sauerstoffleerständen und anderen Punkt-/Linien-/Planardefekten extrahieren.

Tags

Chemie Ausgabe 171 Transmissionselektronenmikroskopie Elektronenkanalisierung Energiedispersive Röntgenspektroskopie Elektronenenergieverlustspektroskopie Dopantbelegung Punktfehlergeometrie Statistische Analyse Quantitative Analyse Elektronenstrahlgestein
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