Implementação de um interferômetro de Referência para Nanodetection

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26 de abril de 2014

10.3791/51133-v

26 de abril de 2014

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Uma técnica interferômetro de referência, que é projetado para remover indesejável ruído jitter laser para nanodetection, é utilizado para sondar um fator microcavidade ultra-alta qualidade. Instruções de montagem, instalação e aquisição de dados são fornecidos, juntamente com o processo de medição para especificar o fator de qualidade da cavidade.

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Title

1:36

Reference Interferometer Construction

3:57

Fiber Pulling

3:01

Free Spectral Range Measurement

6:46

Preparation and Delivery of Solutions

12:43

System Configuration and Interconnections

14:45

Post-processing of Data

14:06

Nanoparticle Detection

15:32

Conclusion

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