Фотоэмиссии с угловым разрешением спектроскопии при сверхнизких температурах

17.5K просмотров

Цитируется: 8

08:53 мин.

9 октября 2012 г.

10.3791/50129-v

9 октября 2012 г.

17.5K просмотров

Sergey V. Borisenko¹ , Volodymyr B. Zabolotnyy¹ , Alexander A. Kordyuk¹^,² , Danil V. Evtushinsky¹ , Timur K. Kim¹^,³ , Emanuela Carleschi⁴ , Bryan P. Doyle⁴ , Rosalba Fittipaldi⁵ , Mario Cuoco⁵ , Antonio Vecchione⁵ , Helmut Berger⁶

¹Institute for Solid State Research, IFW-Dresden, ²Institute of Metal Physics of National Academy of Sciences of Ukraine, ³Diamond Light Source LTD, ⁴Department of Physics, University of Johannesburg, ⁵CNR-SPIN, and Dipartimento di Fisica "E. R. Caianiello", Università di Salerno, ⁶Institute of Physics of Complex Matter, École Polytechnique Fédérale de Lausanne

Основная цель этого метода состоит в определении низких энергий электронной структуры твердых тел при сверхнизких температурах с помощью фотоэмиссии с угловым разрешением спектроскопии с синхротронного излучения.