用于纳米检测的参考干涉仪实现

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2014年4月26日

10.3791/51133-v

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一种参考干涉仪技术被用于探测超高品质因子微腔,该技术旨在消除纳米探测中的不良激光抖动噪声。本文提供了装置的组装、调试和数据采集说明,以及用于确定腔体品质因子的测量过程。

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标题

1:36

参考干涉仪构建

3:57

光纤拉制

3:01

自由光谱范围测量

6:46

溶液的制备与输送

12:43

系统配置与连接

14:45

数据后处理

14:06

纳米颗粒检测

15:32

结论

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