集束イオンビームを用いて低温電子顕微鏡標本の準備

クライオ電子顕微鏡、走査型（SEM）のいずれか、または送信（TEM）は、広く高含水率¹を有する生物学的試料または他の材料の特徴付けのために使用される。 SEM /集束イオンビーム（FIB）は、試料中の関心対象の特徴を識別し、クライオTEMへの転送のために薄い電子透過性のラメラを抽出するために使用される。