Name: Cuantificar datos de fluorescencia de rayos x usando mapas (Video) | JoVE Journal
Uploaded: 2018-02-17T12:30:00.000+00:00
Duration: 14 min 58 s
Description: Aprende a cuantificar datos de fluorescencia de rayos X usando el software MAPS desarrollado por el Laboratorio Nacional Argonne. Este método convierte recuentos cualitativos en masas elementales cuantitativas para análisis de distribución.

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Reconocemos que fondos del Departamento de energía estadounidense bajo contrato DE EE0005948. Uso del centro para los materiales de la nanoescala y la fuente avanzada del fotón, ambas instalaciones de usuario oficina de ciencia, fue apoyado por el Departamento de energía de Estados Unidos, oficina de ciencia, oficina de energía ciencias básicas, bajo contrato no. DE-AC02-06CH11357. Este material está basado en trabajo apoyado en parte por la National Science Foundation (NSF) y el Departamento de energía (DOE) bajo NSF CA no. CEE-1041895. Edición de vídeo fue realizada por VISLAB Universidad Estatal de Arizona. Cualquier opinión, resultados y conclusiones o recomendaciones expresadas en este material son aquellos del autor y no reflejan necesariamente las de NSF o DOE. T.N. es apoyado por una beca de sol IGERT financiada por la National Science Foundation (Premio 1144616).

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</ol>

Los autores no tienen nada que revelar.

Las cifras muestran la importancia de la conexión de datos utilizando este procedimiento. Las figuras 1 (a la derecha) y 2 (abajo) muestran un resultado representativo que debe surgir de una conexión adecuada. Si hay una insuficiente, la imagen de espectro integral se verá notablemente apagado y los datos cuantificados resultantes tendrá errores en él, aunque éstos sean difíciles de detectar en la mayoría de los casos. Para ciertos tipos de muestra para que la norma no es representativo de los elementos ...

XRF sincrotrón-basado se ha utilizado en múltiples disciplinas para muchas décadas. Por ejemplo, se ha utilizado en biología en estudios como el realizado por Geraki et al., en que cuantifican cantidades de rastro de concentraciones de metales dentro de tejido canceroso y no canceroso de la mama 1. Más generalmente, XRF cuantitativa se ha aplicado a una amplia gama de estudios de la biología relacionados con concentraciones de metales en las células y tejidos, según lo descrito por Paunesku et al. 2. Asimismo, protistas marinos fueron estudiados para elementos traza 3,4 e incluso distribuciones de micro y macronutrientes fueron observadas dentro de las células de planta 5. El trabajo de Kemner et al. 6, que identifica las distintas diferencias en morfología y composición elemental en células de las bacterias solo, también fue posible a través de análisis cuantitativo de XRF. Además y especialmente relevante para el ejemplo en la página web, los materiales los científicos estudiando dispositivos de células solares han hecho uso de XRF de alta resolución para estudios sobre la existencia de impurezas metálicas sub-micron en semiconductores de silicio 7 , 8, correlativo trabajo en distribuciones elementales cómo afectan funcionamiento eléctrico en dispositivos solares 9,10e identificables gradientes de profundidad dependiente de CIGS delgada células solares de película mediante pastoreo incidencia rayos x fluorescencia (GIXRF) 11.
Muchos de estos estudios hacen uso no sólo de las capacidades de alta resolución de fluorescencia de rayos x de sincrotrón para el estudio de la distribución espacial, sino también la cuantificación de la información para extraer conclusiones numéricas. En muchos estudios es fundamental conocer las concentraciones elementales asociadas a las distribuciones espaciales ya mencionadas. Por ejemplo, en el trabajo por Geraki et al., el estudio requiere cuantificar la diferencia en las concentraciones de hierro, cobre, zinc y potasio en cancerosas y los tejidos no cancerosos de la mama, para mejor entienden lo que las concentraciones se vuelven nocivas para tejidos humanos 1. Asimismo, trabajar por Luo et al. hizo uso de XRF cuantificado para identificar pequeñas cantidades de cloro incorporados en las células solares de Perovskita cuando sintetiza con y sin cloro que contienen precursores 12. Por lo tanto, ciertos estudios en los que las concentraciones de elementos son cuantificación necesaria, apropiada es un paso necesario y fundamental.
El proceso de cuantificar concentraciones elementales de las mediciones de fluorescencia (XRF) de rayos x traduce en cuentas de intensidad de fluorescencia en concentraciones en masa (por ejemplo μg/cm2). Los espectros de crudos presentan el número de fotones recogidos por el detector de energía dispersiva de fluorescencia en función de la energía. Los espectros son ajuste primero y luego en comparación con una medida estándar para calcular los datos cuantificados. En particular, el primer paso del montaje de espectros de fluorescencia es fundamental incluso para el análisis cualitativo de los elementos. Esto es porque antes de la instalación, se clasifica cuentas partiendo de su energía, que se convierte en un problema cuando dos elementos con transiciones de fluorescencia similares están contenidos en la muestra. En esta situación, cuentas pueden incorrectamente desechadas y así asociadas al mal elemento.
A menudo también es necesario cuantificar los espectros XRF para exactamente sacar conclusiones sobre cantidades relativas de elementos en una muestra. Sin la adecuada cuantificación, recuentos de elementos pesados y elementos más ligeros se comparará directamente, haciendo caso omiso de las diferencias en la captura de probabilidad, absorción y fluorescencia, atenuación de los fotones de la fluorescencia y la distancia de la borde del elemento de la absorción de la energía incidente, que afectan el número de fotones pulso del detector. Por lo tanto, el proceso de montaje de los espectros de cada mapa y comparar intensidades de pico a la norma, los cuales se realizan en el siguiente procedimiento, es fundamental para la cuantificación exacta de cada una de las concentraciones elementales.
Demostramos cómo convertir las cuentas crudas de fotones fluorescencia a unidades de microgramos por centímetro cuadrado (μg/cm2) colocando primero un espectro integral, o un espectro sumado de todos los espectros individuales producidos en cada punto de medición o pixel en un mapa 2D. Este espectro muestra las intensidades relativas de los distintos elementos contenidos en la muestra. La distancia del borde de absorción de un determinado elemento de la energía del haz incidente influye en las intensidades de los picos de fluorescencia. En general, cuanto más cerca las dos energías son, cuanto mayor sea la intensidad producida por esos elementos, aunque no siempre es el caso. Figura 4 Ref 13 muestra la dependencia de la longitud de absorción de fotones de rayos x, que se relaciona directamente con la intensidad resultante, de los elementos de la mayoría en una célula solar de methylammonium plomo yoduro perovskita. Esto demuestra la respuesta de la fluorescencia de los elementos con respecto a la energía, y demuestra que no es una continua disminución en la respuesta al aumentar la distancia de la energía incidente, sino que también es dependiente sobre el elemento sí mismo.
El resultado de esta relación es que las concentraciones elementales crudas pueden aparecer mayores para canales de elemento con energías de excitación más cerca a la energía incidente, aunque las verdaderas cantidades de esos elementos son más bajas en relación con otros elementos con excitación energías más lejos el incidente. Por lo tanto, la dependencia de energía de intensidad, junto con otros factores como las variaciones de rendimiento de fluorescencia, los bordes de absorción diferentes, sensibilidad del detector y fondo de medición, etc., es por ajuste de los datos es muy importante antes de dibujo conclusiones sobre las cantidades elementales observadas. Luego aplicamos un algoritmo de ajuste al espectro integral, donde el usuario define los elementos y parámetros a través de un documento de texto.
El algoritmo, creado por Vogt et al. 14, hace uso de regiones de interés (ROI) de filtrado, en el que integra sobre pico regiones ciertos elementos y análisis de componentes de principio (PCA). En primer lugar, PCA se realiza para identificar sólo los elementos y los picos que son muy evidentes. Esto permite la separación del ruido de la señal verdadera. A continuación, el principio componentes identificados se cuantifican numéricamente, que es importante para deconvoluting picos de elemento diferente con la misma energía de excitación, por ejemplo superposición de Au Mα y P Kα. Por último, ROI filtrado puede aplicarse a los datos numéricos mediante la integración sobre una región determinada.
Para relacionar cuentas a concentraciones elementales, una referencia bien cuantificada (a menudo referida como "estándar") se mide bajo las mismas condiciones de medición, la geometría y la energía, la muestra bajo estudio. Esta norma es a menudo de AXO de Dresden o de la National Institute of Standards and Technology (NIST). Cubren una gran variedad de elementos diferentes y vienen con distribuciones elementales tabuladas. La normalización de las cuentas medidas de la muestra de interés para las cuentas de la norma en las mismas condiciones de medición proporciona la base para la cuantificación elemental de la muestra de interés.
Más específicamente, mapas identifica los elementos y sus concentraciones de la norma por el hecho de que la información estándar es conocida por el programa (como es el caso de los estándares de AXO y NIST) o a través de los datos introducidos en un fichero aparte (en el caso de un diferentes estándar siendo utilizado). De esta información, el programa relaciona las intensidades medidas de los elementos estándar en la configuración de la medida a la concentración esperada en mapas. A continuación, crea un factor de escala para ajustar para cualquier desplazamiento y extrapola este factor de escala a todos los elementos restantes no incluidos en la norma. Entonces, el factor de escala incluye el desplazamiento desde la configuración de medidas y la información proporcionada dentro de mapas para la conversión lineal de cuentas crudas a densidad en μg/cm2.
Aquí, demostramos cómo hacer uso del programa, mapas, desarrollado por el Dr. S. Vogt, cuantificar los datos adquiridos de líneas capaces de fluorescencia en el Laboratorio Nacional Argonne (ANL) 14. Los datos utilizados para la demostración fue adquiridos en el sector 2-ID-D de ANL utilizando la configuración de medición que se muestra en la figura 1 de 10. El procedimiento de conexión puede aplicarse también a datos tomados de otras líneas, sin embargo, tenga en cuenta que ciertas características de las líneas ANL están integrados en el programa y tendrán que ser actualizado.

cuantificar datos de fluorescencia de rayos x usando mapas

Quantifying X-Ray Fluorescence Data Using MAPS

La cuantificación de rayos x, microscopía de fluorescencia (XRF) mapas ajustando los espectros crudos a un estándar conocido es crucial para evaluar la composición química y distribución elemental dentro de un material. Basado en el sincrotrón XRF se ha convertido en una técnica de caracterización integral para una variedad de temas de investigación, particularmente debido a su alta sensibilidad y su carácter no destructivo. Hoy en día, sincrotrones pueden adquirir datos de fluorescencia con resoluciones espaciales muy por debajo de una micra, lo que permite la evaluación de las variaciones composicionales en la nanoescala. Mediante la cuantificación adecuada, entonces es posible obtener una comprensión profunda, de alta resolución de segregación elemental, relaciones estequiométricas y comportamiento de agrupamiento.
Este artículo explica cómo utilizar los mapas instalación software desarrollado por el Argonne National Laboratory para la cuantificación de los mapas XRF completo 2-D. Utilizamos como ejemplo los resultados de un Cu (In, Ga) de células solares Se2 , tomada en la Advanced Photon Source línea 2-ID-D en el laboratorio nacional de Argonne. Se muestra el procedimiento estándar para conexión de datos sin procesar, demuestra cómo evaluar la calidad de una forma y presentar las típicas salidas generadas por el programa. Además, se discuten en este manuscrito cierta limitaciones de software y ofrece sugerencias sobre cómo para más lejos corregir los datos a ser numéricamente exacta y representativa de espacial resuelto, concentraciones elementales.

Un ejemplo de resultados de montaje adecuada puede verse en las figuras siguientes. En primer lugar, en la figura 1 se muestra una comparación directa entre un pobre ajuste y un buen ajuste para el espectro integral. El mal ajuste es reparable por tanto no asegurarse de ningún elemento que falta, por ejemplo cobre, que tiene un pico claro en la figura 1(izquierda) pero no está siendo incluido en el ajuste y el ajuste de los cocie...

Aquí, se demuestra el uso del software de montaje de fluorescencia rayos x, mapas, creado por el Laboratorio Nacional Argonne para la cuantificación de los datos de microscopia de fluorescencia. Los datos cuantificados que resulta están útiles para entender la distribución elemental y relaciones estequiométricas en una muestra de interés.

Cuantificar datos de fluorescencia de rayos x usando mapas

The quantification of X-ray fluorescence (XRF) microscopy maps by fitting the raw spectra to a known standard is crucial for evaluating chemical ...

La fluorescencia de rayos X basada en sincrotrón es una técnica importante para observar la segregación elemental, las relaciones de estequiometría y el comportamiento de agrupamiento en muestras provenientes de múltiples campos, incluyendo la biología, la química y la ciencia de materiales. La información obtenida de estos estudios es cualitativa hasta que se utilizan procedimientos adecuados de cuantificación para convertir los recuentos brutos de fluorescencia en masas aéreas elementales. Este video demostrará cómo utilizar el programa de cuantificación creado por el Laboratorio Nacional Argonne para generar información numérica para mapas bidimensionales de fluorescencia de rayos X.Para utilizar el programa MAPS, primero es necesario descargar el software IDL desde Internet. Actualmente, esto puede hacerse accediendo al sitio web de IDL y creando una cuenta. A continuación, seleccione Mi cuenta y luego Descargas, lo que mostrará una página con todos los programas disponibles.Desplácese hacia abajo y seleccione la versión más reciente de IDL. A continuación, MAPS puede descargarse desde el sitio web del Laboratorio Nacional de Argonne. Después de descargar y extraer la carpeta zip, deberían haber cuatro archivos.Compound.dat, henke. xdr, maps y xrf_library.csv. Los tres archivos distintos de maps deben copiarse y pegarse en la subcarpeta de IDL llamada lib.Para computadoras con Windows, esto muy probablemente se encuentra dentro de Archivos de programa, en la carpeta Exelis. Generalmente es conveniente ejecutar el ajuste desde el escritorio, sin embargo, es fundamental que el nombre de la carpeta y la ruta no contengan espacios ni caracteres especiales, ya que MAPS generará un error al intentar ejecutar el ajuste. Si la ruta hacia el escritorio contiene espacios, coloque la carpeta en otra ubicación.Por ejemplo, directamente dentro de la unidad C. Para esta demostración, colocaré la carpeta de ajuste y el icono de MAPS. sav en el escritorio para facilitar el acceso.Dentro de esta carpeta, coloque los archivos maps_fit_parameters_override.txt y maps_settings.txt. En los documentos complementarios se proporcionan ejemplos de estos archivos.A continuación, cree una carpeta denominada mda y pegue el archivo de mapa de alta resolución elegido que se utilizará inicialmente para el ajuste. También se agregan los archivos para el ajuste estándar y deben incluir uno o cuatro archivos, dependiendo del número de elementos del detector utilizados por el sector. Estos archivos indican el estándar.Si se utilizó el estándar AXO, entonces el archivo debería llamarse axo_std.mca; de lo contrario, si se utilizó el estándar NIST o cualquier otro estándar, puede tener cualquier nombre que finalice en mca, ya que estos archivos se seleccionarán más adelante. Luego, para un detector de cuatro cuadrantes, los archivos de estándar y de parámetros de ajuste deben nombrarse de esta manera, con un rango de mca0 a mca3 y de txt0 a txt3, e incluyendo un archivo de fit_parameters que finalice en txt.A continuación, verifique en el archivo de configuración de mapas que esté utilizando el número correcto de elementos del detector. En el caso de este ajuste, se utilizó un elemento del detector. Con la carpeta de ajuste preparada, abra MAPS y cambie el directorio a la carpeta recién creada en el escritorio.Luego haga clic en aceptar e ir a configuración. La ventana de configuración tiene una variedad de funciones que establecen los parámetros para el ajuste. En primer lugar, seleccione la línea de haz que sea representativa de la línea de haz utilizada para las mediciones.Si las mediciones se realizaron en el Laboratorio Nacional Argonne, entonces la línea de haz debe corresponderse directamente. De lo contrario, se incluye información adicional en el manuscrito sobre qué selección utilizar. A continuación, seleccione el archivo mda que se usará y escriba la energía incidente utilizada para la medición.Seleccione iniciar procesamiento y espere hasta que el programa finalice. Una vez completado, vaya a archivo y luego seleccione la primera opción. Abra la imagen de XRF promedio o de elemento individual.El programa debería haber creado una serie de carpetas nuevas, así que seleccione la carpeta img, donde deberían encontrarse los archivos fit o los archivos h5 generados. Seleccione el archivo correspondiente al mapa y luego cambie el segundo menú desplegable desde la izquierda para que sea la normalización. En este caso, los datos se normalizan respecto a la cámara de iones aguas arriba o USIC.Al seleccionar la vista, la vista de múltiples elementos generará imágenes para los canales de elementos individuales. Las unidades ahora están en microgramos por centímetro cuadrado. Pero los valores aún no son representativos de las cantidades ajustadas.Para trabajar en el ajuste, en lugar de ello los datos se consideran como la suma de todos los espectros provenientes de cada píxel del mapa, lo cual puede visualizarse yendo a Ver, trazar espectro integral. A continuación, vaya a Generar salida, exportar serie de espectros integrados en formato largo para guardar la imagen. Cierre la ventana y vaya a Herramientas, herramienta de espectro, cargar espectro.Localice el archivo que acaba de exportarse a la carpeta de salida. En general, ordenar la carpeta de salida por fecha de modificación es la forma más rápida de encontrar los archivos, ya que cada nuevo ajuste actualiza los archivos dentro de la carpeta. El espectro exportado tendrá el nombre intspec seguido de la línea de haz y el número de escaneo, y luego la extensión txt.Una vez que se abra el espectro, abra el archivo maps_fit_parameters_override. Primero, verifique que el número de elementos del detector sea correcto. A continuación, en la línea de elementos a ajustar, incluya todos los elementos que se espera que estén en la muestra.Observe que los elementos de línea L y los elementos de línea M incluyen el sufijo _L o _M, respectivamente. Aquí se sabe que el cobre está presente en la muestra, pero se excluirá para proporcionar un ejemplo de un ajuste incompleto. Al desplazarse hacia abajo, ingrese la energía incidente para la energía de dispersión coherente.Luego, en las dos líneas siguientes, ingrese un rango de energía máximo y mínimo que el programa utilizará como límites. Por lo general, un rango de más y menos 2 a más y menos 5 keV es suficiente. Más abajo, verifique que la energía máxima y mínima para el ajuste incluya las energías de los elementos de interés.Además, verifique que el elemento del detector de líneas tenga el número correcto correspondiente al detector de germanio o silicio. En la parte inferior del archivo, existe la posibilidad de cambiar los nombres de los canales del detector que se utilizan en el ajuste. Se describe con mayor detalle en el manuscrito cómo realizar estos cambios.Después de realizar los cambios, guarde el documento. A continuación, seleccione análisis, ajustar espectro, y aparecerá una ventana. En la parte superior, se puede establecer el rango de energía para el ajuste, así como el número de iteraciones utilizadas para el ajuste.Después de cambiar el rango, seleccione el tercer botón de los cuatro situados en la parte inferior y el programa ejecutará un ajuste. Desde la ventana de la herramienta de espectro, hay una serie de menús desplegables que permiten la visualización de diferentes curvas. En los menús desplegables, configure uno en "ajustado" y las demás selecciones en "ninguna".En la parte inferior izquierda, seleccionar agregar elemento permite al usuario buscar en el espectro picos faltantes. Al usar el signo más y hacer clic a través de él, parece que el pico que falta en el ajuste es el pico de cobre K alpha. Para ciertos picos, particularmente hacia la izquierda de la imagen, el ajuste parece incluir los elementos correctos, pero las líneas aún están muy alejadas en intensidad respecto a la intensidad del espectro.Esto puede mejorarse aumentando el número de iteraciones. Por lo general, al menos 50 son suficientes para observar una diferencia notable. Ahora, al regresar al archivo fit_parameters, se añade cobre, se guarda el archivo y luego se vuelve a ejecutar el ajuste, lo que muestra que el pico ahora se ajusta adecuadamente.Después de buscar todos los elementos faltantes restantes, el ajuste parece adecuado. En algunos casos, aún hay algunos picos cuyas líneas no coinciden perfectamente. Por ejemplo, los dos picos en cuatro keV, que corresponden a las líneas de indio Lg1 a Lg4, parecen tener el elemento correcto ajustado, pero el ajuste está asignando intensidades más altas a los picos de las que se obtuvieron realmente en la medición.Esta situación ocurre con mayor frecuencia en los elementos de la serie L. Mientras que para los elementos de la serie K existen relaciones de intensidad pico tabuladas en la literatura, las relaciones de alturas pico para las líneas L dependen mucho más de la energía incidente. Para mejorar el ajuste de estas líneas, primero debe crearse una línea en el archivo fit_parameters para el ajuste de la familia de ramificación.Estos números indican las intensidades relativas en comparación con la bibliografía para las familias L1, L2 y L3, que se muestran como líneas amarilla, rosa y azul en la herramienta de espectro. A menudo, estos números pueden mantenerse como unos o iguales a los valores de la bibliografía. En cambio, se modificará la relación de cada línea individual.Antes del ajuste de la relación de ramificación para el indio, obsérvese que las relaciones de ramificación para las líneas L gamma están todas establecidas en uno. Al examinar el espectro integral, es evidente que el valor de la literatura es demasiado alto. Tras estimar el porcentaje de diferencia entre las líneas verdes y blancas para cada energía, se modifica la relación de ramificación, se guarda y se vuelve a ejecutar el ajuste, lo que produce una mejora observable en el ajuste de la línea verde respecto a la línea del espectro blanco.A menudo este proceso requerirá varios intentos, pero es necesario garantizar la precisión del ajuste. Después de identificar los parámetros_de_ajuste que producen el mejor ajuste posible, realice el ajuste una vez más con 10 o 50 K iteraciones. Esto se hace porque cada ajuste actualiza el archivo promedio de mapas_parámetros_de_ajuste_sobrescritos, que será el archivo que se implemente realmente para el ajuste.Una vez finalizado el ajuste, cierre la ventana de la herramienta de espectroscopía. Luego agregue _input al archivo maps_fit_parameters y renombre el archivo promedio resultante como maps_fit_parameters_override.txt. Al completar esto, regrese a la ventana de configuración y seleccione la línea de haz.Luego, marque la opción de uso adecuado y copie y pegue todos los archivos mda que se ajustarán en la carpeta mda. Usando los archivos mda seleccionados, revise y resalte todos los archivos que se ajustarán. La energía incidente ya habrá sido ingresada a partir del proceso de ajuste.A la derecha de la ventana, utilizando los símbolos de más y menos, haga clic para avanzar y marque las casillas de los elementos que están incluidos en el archivo fit_parameters. Algunos elementos no están incluidos en esta casilla. Por ejemplo, el indio no lo está.Para incluir el indio, marque una casilla para cualquiera de los otros elementos que no se estén ajustando. Luego, en la categoría de nombre de ROI, cambie el nombre al del elemento necesario. A continuación, utilizando cualquier base de datos de fluorescencia, por ejemplo la aplicación Hephaestus, busque la energía de la línea de energía principal.En este caso, el indio L alfa uno. Continúe desplazándose por los elementos hasta el final, seleccionando también S_I, S_E, S_A, TFY y el fondo. En la parte superior izquierda, seleccione la opción de configuración para guardar el archivo de configuración y así almacenar los ajustes de ajuste para su uso futuro.En este momento, si se va a utilizar el estándar NIST para el ajuste, seleccione el botón correspondiente al número del estándar NIST, ya sea NBS 1832 o 1833. Luego, seleccione el nombre del archivo del estándar desde la carpeta principal. Después de esto, el ajuste está listo.Por lo tanto, seleccione iniciar procesamiento para comenzar. Una vez que las calibraciones estén completas, se pueden visualizar como antes yendo a archivo, abrir imagen de XRF, promedio o elemento individual. Y luego a visualización, vista de múltiples elementos.Mediante los detectores de elementos seleccionados en la parte inferior derecha, es posible cambiar los canales que se analizan. A partir de esto, se muestran valores numéricos en microgramos por centímetro cuadrado del orden de lo esperado para la muestra. El cálculo utilizado para estimar los valores previstos se describe en el manuscrito.Por ejemplo, aquí se muestran los datos cuantificados para los elementos mayoritarios de una celda solar sig, cobre, indio y galio. Debido a la energía incidente utilizada, la medición no fue sensible ni capaz de detectar el pico de selenio. Por lo tanto, ha sido excluido.A partir de estos datos, ahora es posible relacionar la distribución de diversos elementos dentro de la muestra entre sí, extrayendo conclusiones sobre cómo se distribuyen los distintos cationes de una celda solar sig dentro de un dispositivo y el grado de heterogeneidad que presentan. El espectro ajustado para cada uno de los mapas de ajuste también puede visualizarse nuevamente yendo a visualización, espectro integral del gráfico. Aquí se debería poder observar el espectro de los datos en blanco y el ajuste en color.Esto puede utilizarse para verificar el ajuste de todos los archivos de datos solo para asegurarse de que el proceso se aplicó correctamente a cada mapa. Finalmente, para exportar los datos, vaya a generar salida y seleccione exportar, cree archivos ASCII combinados de mapas. Esto creará un archivo de Excel que contiene los datos de fluorescencia cuantificados para todos los elementos que se muestran.Para cambiar o agregar elementos, utilice la opción seleccionar detectores de elementos. Los datos luego se pueden encontrar en la carpeta de salida. Este video ha explicado paso a paso cómo utilizar el software de ajuste MAPS creado por el Argonne National Laboratory para la cuantificación de datos de fluorescencia de rayos X.Aunque el procedimiento es muy útil para una variedad de situaciones, existen muchos escenarios de casos especiales y desafíos que requieren consideración adicional. Estos se describen con mayor detalle a continuación, y se están realizando mejoras continuas para avanzar aún más en la precisión del ajuste de espectros de fluorescencia de rayos X. Sin embargo, la capacidad del programa para transformar mapas de fluorescencia 2D cualitativos y de alta resolución en cantidades elementales cuantitativas con resolución espacial proporciona un aumento significativo en la información obtenible a partir de estas mediciones.Esperamos que esta demostración haya sido útil para comprender mejor el proceso de cuantificación de datos de microscopía de fluorescencia de rayos X. Gracias por ver.

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