JoVE 비디오를 활용하시려면 도서관을 통한 기관 구독이 필요합니다. 전체 비디오를 보시려면 로그인하거나 무료 트라이얼을 시작하세요.
Chapters
- 00:05Title
- 02:13Mounting of COOH-SAM Surfaces on Gold for Soft Landing of Mass-selected Ions
- 03:07Soft Landing of Mass-selected Ru(bpy)32+ onto COOH-SAM Surfaces
- 04:17Analysis by In Situ TOF-SIMS Before and After Exposure to Reactive Gases
- 05:59Analysis by In Situ FT-ICR-SIMS and IRRAS During and After Soft Landing
- 07:28Results: Characterization of Organometallic Ions Soft Landed onto COOH-SAMs by In Situ SIMS and IR Spectroscopy
- 09:39Conclusion
Мягкая посадка ионов массового выбран на поверхности является мощным подход к высоко-контролируемого получения новых материалов. В сочетании с анализом по на месте вторичной ионной масс-спектрометрии (SIMS) и инфракрасной спектроскопии поглощения отражения (IRRAS), мягкая посадка обеспечивает беспрецедентные понимание взаимодействия четко определенных видов с поверхностей.
