Journal
/
/
בSIMS אתרו וIR ספקטרוסקופיה של משטחים מוגדרים היטב הוכן על ידי רכה נחיתה של יונים המוניים שנבחרו
JoVE 신문
화학
JoVE 비디오를 활용하시려면 도서관을 통한 기관 구독이 필요합니다.  전체 비디오를 보시려면 로그인하거나 무료 트라이얼을 시작하세요.
JoVE 신문 화학
In Situ SIMS and IR Spectroscopy of Well-defined Surfaces Prepared by Soft Landing of Mass-selected Ions
DOI:

10:22 min

June 16, 2014

, ,

Chapters

  • 00:05Title
  • 02:13Mounting of COOH-SAM Surfaces on Gold for Soft Landing of Mass-selected Ions
  • 03:07Soft Landing of Mass-selected Ru(bpy)32+ onto COOH-SAM Surfaces
  • 04:17Analysis by In Situ TOF-SIMS Before and After Exposure to Reactive Gases
  • 05:59Analysis by In Situ FT-ICR-SIMS and IRRAS During and After Soft Landing
  • 07:28Results: Characterization of Organometallic Ions Soft Landed onto COOH-SAMs by In Situ SIMS and IR Spectroscopy
  • 09:39Conclusion

Summary

자동 번역

נחיתה רכה של יונים שנבחרו המוניים על גבי משטחים היא גישה רבת עוצמה לעריכה לשליטה מאוד של חומרים חדשים. בשילוב עם ניתוח על ידי בספקטרומטריית האתר משנית המונית יון (SIMS) וספקטרוסקופיה קליטת השתקפות אינפרא אדום (IRRAS), נחיתה רכה מספקת תובנות חסרות תקדים לתוך האינטראקציות של מינים מוגדרים היטב עם משטחים.

Related Videos

Read Article