JoVE 비디오를 활용하시려면 도서관을 통한 기관 구독이 필요합니다. 전체 비디오를 보시려면 로그인하거나 무료 트라이얼을 시작하세요.
Chapters
- 00:05Title
- 02:13Mounting of COOH-SAM Surfaces on Gold for Soft Landing of Mass-selected Ions
- 03:07Soft Landing of Mass-selected Ru(bpy)32+ onto COOH-SAM Surfaces
- 04:17Analysis by In Situ TOF-SIMS Before and After Exposure to Reactive Gases
- 05:59Analysis by In Situ FT-ICR-SIMS and IRRAS During and After Soft Landing
- 07:28Results: Characterization of Organometallic Ions Soft Landed onto COOH-SAMs by In Situ SIMS and IR Spectroscopy
- 09:39Conclusion
Yüzeylere kitle seçilmiş iyonları yumuşak iniş yeni malzemelerin son derece kontrollü hazırlanması için güçlü bir yaklaşımdır. Yerinde ikincil iyon kütle spektrometresi (SIMS) ve infrared yansıma absorpsiyon spektroskopisi (IRRAS) Yazan analizi ile birleştiğinde, yumuşak iniş yüzeyler ile iyi tanımlanmış türlerin etkileşimleri içine görülmemiş anlayışlar sağlar.
