C 프로빙 (84)은 스캐닝 프로브 현미경 및 분자 역학을 사용하여 실리콘 기판을 - 임베디드

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2016년 9월 28일

10.3791/54235-v

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이 논문은 나노 측정 및 분자 역학 시뮬레이션으로 검사 및 검증된 풀러렌 Si 기판의 나노 물질 제조를 보고합니다.

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Molecular Dynamics simulation

Chapters in this video

0:05

Title

1:21

Fabrication of Hexagonal-closed-packaged (HCP) Overlayer of C84 in Si Substrate

2:57

Measurements of Electronic Properties of C84-embedded Si Substrate

5:07

Measurements of Surface Magnetism

6:17

Measurements of Nanomechanical Properties by AFM

6:49

Measurement of Nanomechanical Properties by Molecular Dynamics Simulation

11:05

Results: Characterization of C84-embedded Silicon Substrate by Nanomeasurements and Molecular Dynamic Simulation

12:46

Conclusion

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