JoVE Journal
Chemistry
Chemistry
JoVE 비디오를 활용하시려면 도서관을 통한 기관 구독이 필요합니다. 전체 비디오를 보시려면 로그인하거나 무료 트라이얼을 시작하세요.
챕터
요약
Please note that all translations are automatically generated.
Atomkraftmikroskopi (AFM) kombineret med scanning af elektrokemisk mikroskopi (SECM), nemlig AFM-SECM, kan bruges til samtidig at erhverve topografiske og elektrokemiske oplysninger i høj opløsning på materialeoverflader på nanoskala. Sådanne oplysninger er afgørende for at forstå heterogene egenskaber (f.eks. reaktivitet, defekter og reaktionssteder) på lokale overflader af nanomaterialer, elektroder og biomaterialer.