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난 류와 흐름 이미징 기술을 사용 하 여 입자 운동학의 동시 측정
 
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난 류와 흐름 이미징 기술을 사용 하 여 입자 운동학의 동시 측정

Article doi: 10.3791/58036
March 12th, 2019

Summary March 12th, 2019

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여기에 설명 된 기술을 동시에 입자 운동학 및 낮은 입자 농도와 흐름에 난 기류를 측정 하는 저렴 한 가격과 상대적으로 간단한 방법을 제공 합니다. 기류 입자 이미지 velocimetry (PIV)을 사용 하 여 측정 되 고 입자 운동학 겹치는 분야-중-보기에서 고속 카메라로 얻은 이미지에서 계산 됩니다.

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