Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Engineering

This content is Open Access.

Vervoerder levensduur metingen in halfgeleiders via de magnetron Photoconductivity verval methode
 
Click here for the English version

Vervoerder levensduur metingen in halfgeleiders via de magnetron Photoconductivity verval methode

Article doi: 10.3791/59007
April 18th, 2019

Summary April 18th, 2019

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Als een van de belangrijke fysieke parameters in halfgeleiders, is vervoerder levensduur hierin gemeten via een protocol met de magnetron photoconductivity verval methode.

Transcript

Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
simple hit counter