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Medições de tempo de vida transportadora em semicondutores através do método de decaimento de Fotocondutividade de microondas
 
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Medições de tempo de vida transportadora em semicondutores através do método de decaimento de Fotocondutividade de microondas

Article doi: 10.3791/59007
April 18th, 2019

Summary April 18th, 2019

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Dentre os parâmetros físicos importantes em semicondutores, tempo de vida do portador é medido aqui através de um protocolo que emprega o método de decaimento de Fotocondutividade de microondas.

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