Journal
/
Engineering
/
I Situ Måling af vakuumvinduet Birefringence med 25mg+ fluorescens
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
In Situ Measurement of Vacuum Window Birefringence using 25Mg+ Fluorescence

I Situ Måling af vakuumvinduet Birefringence med 25mg+ fluorescens

DOI:
10.3791/61175-v

•

07:03 min

•

June 13, 2020

•

, , , , , , , ,
1MOE Key Laboratory of Fundamental Physical Quantities Measurement, Hubei Key Laboratory of Gravitation and Quantum Physics, PGMF and School of Physics,Huazhong University of Science and Technology

Chapters

  • 00:04Introduction
  • 01:06A and B Polarizer Reference Direction Setup
  • 02:00Waveplate Azimuthal Angles Reference Angle Setup
  • 02:51Single 25Mg+ Ion Doppler Cooling
  • 03:30Doppler Cooling Laser Frequency Wavelength Meter Locking
  • 04:01Laser Intensity Setup
  • 04:33Vacuum Window Birefringence Measurement
  • 04:59Results: Representative Vacuum Window Birefringence Analyses
  • 06:08Conclusion

Summary

Automatic Translation

Automatic Translation

Præsenteret her er en metode til at måle birefringence af vakuum vinduer ved at maksimere fluorescens tæller udsendes af Doppler afkølet 25Mg+ ioner i en ion fælde. Den birefringence af vakuum vinduer vil ændre polarisering stater af laseren, som kan kompenseres ved at ændre azimuthal vinkler af eksterne bølge plader.

Tags

In-situ MeasurementVacuum Window Birefringence25Mg+ FluorescencePolarization CompensationCold AtomsIon TrapDoppler CoolingMagnesium-25 IonsPolarizerWave PlateLaser BeamVacuum Chamber

Article

Embed

ADD TO PLAYLIST

Usage Statistics

Related Videos

Measurement of Coherence Decay in GaMnAs Using Femtosecond Four-wave Mixing

In Situ Neutron pulverdiffraktion Brug Skræddersyede lithium-ion batterier

Udvikling af en forsøgsopstilling til måling af Restitutionskoefficienten under vakuum

Uden kerner Vækst af Bismuth nanowire Array via Vakuum Termisk fordampning

Optisk Trap Loading af Dielektrisk mikropartikler i Air

Produktion og karakterisering af vakuum deponerede organisk lysemitterende dioder

Metoder til Ex Situ og In Situ undersøgelser af strukturelle forandringer: sagen om krystallisering af metalliske briller

Metodeudvikling for kontaktfri resonans hulrum dielektriske spektroskopiske undersøgelser af celluloseholdigt papir

In Situ overfladetemperaturmåling i en transportbåndsovn via inline infrarød termografi

Måling Sub-23 Nanometer Real Kørsel Partikel nummer emissioner ved hjælp af bærbare DownToTen Sampling System

Read Article