Journal
/
Engineering
/
In Situ Meting van Vacuüm Venster Birefringence met behulp van 25Mg+ Fluorescentie
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
In Situ Measurement of Vacuum Window Birefringence using 25Mg+ Fluorescence
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

In Situ Meting van Vacuüm Venster Birefringence met behulp van 25Mg+ Fluorescentie

DOI:
10.3791/61175-v

•

07:03 min

•

June 13, 2020

•

, , , , , , , ,
1MOE Key Laboratory of Fundamental Physical Quantities Measurement, Hubei Key Laboratory of Gravitation and Quantum Physics, PGMF and School of Physics,Huazhong University of Science and Technology

Chapters

  • 00:04Introduction
  • 01:06A and B Polarizer Reference Direction Setup
  • 02:00Waveplate Azimuthal Angles Reference Angle Setup
  • 02:51Single 25Mg+ Ion Doppler Cooling
  • 03:30Doppler Cooling Laser Frequency Wavelength Meter Locking
  • 04:01Laser Intensity Setup
  • 04:33Vacuum Window Birefringence Measurement
  • 04:59Results: Representative Vacuum Window Birefringence Analyses
  • 06:08Conclusion

Summary

Automatic Translation

Automatic Translation

Hier gepresenteerd is een methode om de birefringence van vacuüm ramen te meten door het maximaliseren van de fluorescentie telt uitgezonden door Doppler gekoeld 25Mg+ ionen in een ionenval. De birefringence van vacuümvensters zal de polarisatietoestanden van de laser veranderen, die kunnen worden gecompenseerd door de azimuthalhoeken van externe golfplaten te veranderen.

Tags

In-situ MeasurementVacuum Window Birefringence25Mg+ FluorescencePolarization CompensationCold AtomsIon TrapDoppler CoolingMagnesium-25 IonsPolarizerWave PlateLaser BeamVacuum Chamber

Article

Embed

ADD TO PLAYLIST

Usage Statistics

Related Videos

Measurement of Coherence Decay in GaMnAs Using Femtosecond Four-wave Mixing

In Situ Neutron poederdiffractie behulp Maatwerk Lithium-ion batterijen

Ontwikkeling van een experimentele opstelling voor het meten van de Coëfficiënt van Restitutie onder vacuüm

Pitloze groei van bismut Nanowire Array via Vacuum Thermische Verdamping

Optische val Laden van diëlektrische micropartikels in Air

Productie en karakterisering van vacuüm gestort Organic Light Emitting Diodes

Methoden van Ex Situ en In Situ onderzoeken van structurele transformaties: het geval van kristallisatie van metalen bril

Methodeontwikkeling voor contactloze resonante holte diëlektrische spectroscopische studies van Cellulosisch papier

In Situ Oppervlaktetemperatuurmeting in een transportbandoven via inline infrarood thermografie

Het meten van sub-23 nanometer real driving particle number emissies met behulp van de Portable DownToTen Sampling System

Read Article