JoVE Journal
Engineering
Engineering
需要订阅 JoVE 才能查看此 内容. 登录或开始免费试用。
章节
总结概括
Please note that all translations are automatically generated.
Cryogenic Focused Ion Beam (FIB) en Scanning Electron Microscopy (SEM) technieken kunnen belangrijke inzichten bieden in de chemie en morfologie van intacte vast-vloeistof interfaces. Methoden voor het voorbereiden van hoogwaardige Energy Dispersive X-ray (EDX) spectroscopische kaarten van dergelijke interfaces zijn gedetailleerd, met een focus op energieopslagapparaten.