Waiting
登录处理中...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / הדמיה מכנולומינסנטית של התפשטות סדקים להערכת…
JoVE Journal
Engineering

这篇 内容 是免费权限的.

JoVE Journal Engineering
הדמיה מכנולומינסנטית של התפשטות סדקים להערכת מפרקים
Sub-nanometer Resolution Imaging with Amplitude-modulation Atomic Force Microscopy in Liquid
Journal (Engineering)
Sub-nanometer Resolution Imaging with Amplitude-modulation Atomic Force Microscopy in Liquid
Electric-field Control of Electronic States in WS2 Nanodevices by Electrolyte Gating
Journal (Engineering)
Electric-field Control of Electronic States in WS2 Nanodevices by Electrolyte Gating
 
Click here for the English version

הדמיה מכנולומינסנטית של התפשטות סדקים להערכת מפרקים

Article DOI: 10.3791/64118-v • 04:58 min • January 6th, 2023
January 6th, 2023 •
1, 1
1Sensing System Research Center (SSRC), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)

章节

总结概括
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

במחקר זה מוצג פרוטוקול המתאר את השימוש בהדמיה מכנולומינסנטית (ML) לניטור התפשטות סדקים והתנהגות מכנית במהלך בדיקות הערכת מפרקים דביקים.

Tags

הנדסה גיליון 191
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter