Implementierung eines Referenz-Interferometer für Nanodetection

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26. April 2014

10.3791/51133-v

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Eine Referenz-Interferometer-Technik, die ausgelegt ist, um unerwünschte Laser Jitterrauschen für nanodetection entfernen, wird für die Sondierung eine ultra-hohe Güte Microcavity genutzt. Anleitungen für die Montage, Einrichtung und Datenerfassung vorgesehen, neben der Messung für die Angabe der Hohlraum Qualitätsfaktor.

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Title

1:36

Reference Interferometer Construction

3:57

Fiber Pulling

3:01

Free Spectral Range Measurement

6:46

Preparation and Delivery of Solutions

12:43

System Configuration and Interconnections

14:45

Post-processing of Data

14:06

Nanoparticle Detection

15:32

Conclusion

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