Implementación de un interferómetro de referencia para Nanodetection

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26 de abril de 2014

10.3791/51133-v

26 de abril de 2014

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Una técnica de interferómetro de referencia, que está diseñado para eliminar el ruido de fluctuación de fase láser indeseable para nanodetection, se utiliza para sondear un factor microcavidad de ultra-alta calidad. Instrucciones para el ensamblaje, la instalación y adquisición de datos se proporcionan, junto con el proceso de medida para especificar el factor de calidad de la cavidad.

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Título

1:36

Construcción del interferómetro de referencia

3:57

Estirado de fibra

3:01

Medición del rango espectral libre

6:46

Preparación y suministro de soluciones

12:43

Configuración e interconexiones del sistema

14:45

Postprocesamiento de datos

14:06

Detección de nanopartículas

15:32

Conclusión

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