Implementación de un interferómetro de referencia para Nanodetection

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26 de abril de 2014

10.3791/51133-v

26 de abril de 2014

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Una técnica de interferómetro de referencia, que está diseñado para eliminar el ruido de fluctuación de fase láser indeseable para nanodetection, se utiliza para sondear un factor microcavidad de ultra-alta calidad. Instrucciones para el ensamblaje, la instalación y adquisición de datos se proporcionan, junto con el proceso de medida para especificar el factor de calidad de la cavidad.

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Title

1:36

Reference Interferometer Construction

3:57

Fiber Pulling

3:01

Free Spectral Range Measurement

6:46

Preparation and Delivery of Solutions

12:43

System Configuration and Interconnections

14:45

Post-processing of Data

14:06

Nanoparticle Detection

15:32

Conclusion

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