Name: Concurrent conducibilità quantitativa e meccaniche Misure Proprietà dei materiali organici fotovoltaici utilizzando AFM (Video) | JoVE Journal
Uploaded: 2013-01-23T13:00:00.000+00:00
Duration: 8 min 59 s
Description: Scopri le misure quantitative di conducibilità e proprietà meccaniche di materiali fotovoltaici organici utilizzando la microscopia a forza atomica. Questo metodo consente di correlare morfologia e prestazioni elettriche.

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MPN è grato al Fellowship Program del direttore di un sostegno finanziario. MPN vuole ringraziare Yu-Chih Tseng di aiuto per lo sviluppo del protocollo per l&#39;elaborazione delle celle solari. Questo lavoro è stato svolto presso il Centro di materiali su nanoscala, un Dipartimento dell&#39;Energia degli Stati Uniti, Office of Science, Ufficio di Basic Funzione utente energia Scienze nell&#39;ambito del contratto n ° DE-AC02-06CH11357.

1. Acquisizione del segnale <ol class="lalpha"><li> Installare campione (cella solare polimerica senza catodo (ITO / PEDOT: PSS/P3HT: PC 61 BM)) in uno spot AFM Multimode (Veeco, Santa Barbara, CA) equipaggiato con Nanoscope-V controller. </li><li> Installare AFM conduttivo sonda in Multimode supporto sonda AFM. </li><li> Creare il collegamento elettrico tra la sonda AFM, campione e sorgente di tensione. </li><li> Percorso di uscita amplificatore di corrente (segnale di corrente), Multimode AFM flessione uscita (forza del segnale), Multimode AFM di campionamento di uscita altezza (segnale di distanza) in una scheda di acquisizione digitale (NI-DAQ PCI-6115). Il guadagno su Femto DLPCA-200 amplificatore di corrente è di 1 nA / V a 50 kHz di banda. </li><li> Applicare polarizzazione 6V tra AFM sonda e l&#39;elettrodo ITO. </li><li> Eseguire Multimode AFM in modalità PeakForceTM raccogliendo segnale topografia: picco set point forza di 30 nN, una ampiezza di oscillazione del supporto 300 nm, una frequenza di oscillazione di supporto 2 kHz, una velocità di scansione di 1 Hz, e una risoluil di 512 x 512 pixel. </li><li> Raccogliere i segnali di cui alla sezione D con LabView / MATLAB controllo in concomitanza con l&#39;acquisizione del segnale di topografia (e passo). </li></ol> 2. Analisi dei dati Fase 1: Generazione di Pull-off Forza, rigidezza di contatto, e mappe attuali <ol class="lalpha"><li> Leggi cronodatati segnali di corrente, di forza e la distanza in MATLAB. </li><li> Crea 2.000 forza - distanza, e la forza - curve di corrente per la prima linea di scansione. Numero di curve è una funzione della frequenza di oscillazione di supporto e velocità di scansione. </li><li> Da ogni forza - curva di distanza, stabilire contatti rigidità e pull-off-forza durante l&#39;estrazione della sonda AFM (Figura 1). </li><li> Da ogni forza - curva di corrente, determinare la corrente media mentre la sonda AFM è a contatto con la superficie durante il ritiro (Figura 1). </li><li> Interpolare 2000 rigidezza di contatto equidistanti, pull-off-forza, e attuali punti di 512 punti da abbinare risoluzionezione del segnale topografia. La prima linea di scansione per la rigidezza di contatto, pull-off-forza, e mappe aggiornate è fatto. </li><li> Crea contatto rigidità, pull-off-forza, e mappe aggiornate ripetendo i passaggi da B ad E 512 volte. Risultati sono mostrati in Figura 2. </li></ol> 3. Dati Fase Analisi 2: Eliminazione di Contact-zona artefatti <ol class="lalpha"><li> Utilizzare l&#39;equazione (1) e (2) per ottenere Modulo di Young (MATERIALI E) e la resistenza (ρ) del materiale in ogni punto della scansione: 20 <img alt="Equazione 1" fo:content-width="2.853in" fo:src="/files/ftp_upload/50293/50293eq1highres.jpg" src="/files/ftp_upload/50293/50293eq1.jpg" /> con F = F ADH PULL - 8 nN (adesione a causa del menisco dell&#39;acqua tra la AFM e la superficie), 20 rigidezza di contatto (k), e corrente (I) le mappe, la tensione sondaggio (V), spessore del film (L), e adesioneenergia (w = γ + γ SONDA MATERIA L - γ SONDA - MATERIALE, dove γ SONDA - energia superficiale del materiale della sonda, MATERIALE γ - energia superficiale del materiale del campione, e γ-PROBE MATERIALE - energia interfacciale di materiale campione e materiale sonda) . 20 </li></ol>

<ol><li>Chen, W., Nikiforov, M. P., Darling, S. B. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Morphology+characterization+in+organic+and+hybrid+solar+cells%5BTitle%5D)+AND+%22Energy+Environ.+Sci%22%5BJournal%5D)">Morphology characterization in organic and hybrid solar cells.</a> Energy Environ. Sci. , (2012).</li>
<li>Dupont, S. R., Oliver, M., Krebs, F. C., Dauskardt, R. H. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Interlayer+adhesion+in+roll-to-roll+processed+flexible+inverted+polymer+solar+cells%5BTitle%5D)+AND+%22Sol.+Energy%22%5BJournal%5D)">Interlayer adhesion in roll-to-roll processed flexible inverted polymer solar cells.</a> Sol. Energy. 97, 171-175 (2012).</li>
<li>Green, M. A., Emery, K., Hishikawa, Y., Warta, W., Dunlop, E. D. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Solar+cell+efficiency+tables+%28version+39%29%5BTitle%5D)+AND+%22Progress+in+Photovoltaics%22%5BJournal%5D)">Solar cell efficiency tables (version 39).</a> Progress in Photovoltaics. 20 (1), 12-20 (2012).</li>
<li>Krebs, F. C., Gevorgyan, S. A., Alstrup, J. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((A+roll-to-roll+process+to+flexible+polymer+solar+cells%3A+model+studies%2C+manufacture+and+operational+stability+studies%5BTitle%5D)+AND+%22Journal+of+Materials+Chemistry%22%5BJournal%5D)">A roll-to-roll process to flexible polymer solar cells: model studies, manufacture and operational stability studies.</a> Journal of Materials Chemistry. 19 (30), 5442-5451 (2009).</li>
<li>Binnig, G., Quate, C. F., Gerber, C. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Atomic+Force+Microscope%5BTitle%5D)+AND+%22Physical+Review+Letters%22%5BJournal%5D)">Atomic Force Microscope.</a> Physical Review Letters. 56 (9), 930-933 (1986).</li>
<li>Hurley, D. C., Kopycinska-Muller, M., Kos, A. B., Geiss, R. H. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Nanoscale+elastic-property+measurements+and+mapping+using+atomic+force+acoustic+microscopy+methods%5BTitle%5D)+AND+%22Measurement+Science+%26+Technology%22%5BJournal%5D)">Nanoscale elastic-property measurements and mapping using atomic force acoustic microscopy methods.</a> Measurement Science & Technology. 16 (11), 2167-2172 (2005).</li>
<li>Jesse, S., Nikiforov, M. P., Germinario, L. T., Kalinin, S. V. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Local+thermomechanical+characterization+of+phase+transitions+using+band+excitation+atomic+force+acoustic+microscopy+with+heated+probe%5BTitle%5D)+AND+%22Applied+Physics+Letters%22%5BJournal%5D)">Local thermomechanical characterization of phase transitions using band excitation atomic force acoustic microscopy with heated probe.</a> Applied Physics Letters. 93 (7), (2008).</li>
<li>Nikiforov, M. P., Gam, S., Jesse, S., Composto, R. J., Kalinin, S. V. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Morphology+Mapping+of+Phase-Separated+Polymer+Films+Using+Nanothermal+Analysis%5BTitle%5D)+AND+%22Macromolecules%22%5BJournal%5D)">Morphology Mapping of Phase-Separated Polymer Films Using Nanothermal Analysis.</a> Macromolecules. 43 (16), 6724-6730 (2010).</li>
<li>Nikiforov, M. P., Jesse, S., Morozovska, A. N., Eliseev, E. A., Germinario, L. T., Kalinin, S. V. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Probing+the+temperature+dependence+of+the+mechanical+properties+of+polymers+at+the+nanoscale+with+band+excitation+thermal+scanning+probe+microscopy%5BTitle%5D)+AND+%22Nanotechnology%22%5BJournal%5D)">Probing the temperature dependence of the mechanical properties of polymers at the nanoscale with band excitation thermal scanning probe microscopy.</a> Nanotechnology. 20 (39), (2009).</li>
<li>Rabe, U., Amelio, S., Kopycinska, M., Hirsekorn, S., Kempf, M., Goken, M., Arnold, W. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Imaging+and+measurement+of+local+mechanical+material+properties+by+atomic+force+acoustic+microscopy%5BTitle%5D)+AND+%22Surface+and+Interface+Analysis%22%5BJournal%5D)">Imaging and measurement of local mechanical material properties by atomic force acoustic microscopy.</a> Surface and Interface Analysis. 33 (2), 65-70 (2002).</li>
<li>Nikiforov, M. P., Zerweck, U., Milde, P., Loppacher, C., Park, T. -H., Uyeda, H. T., Therien, M. J., Eng, L., Bonnell, D. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((The+effect+of+molecular+orientation+on+the+potential+of+porphyrin-metal+contacts%5BTitle%5D)+AND+%22Nano+Letters%22%5BJournal%5D)">The effect of molecular orientation on the potential of porphyrin-metal contacts.</a> Nano Letters. 8 (1), 110-113 (2008).</li>
<li>Nikiforov, M. N., Brukman, M. J., Bonnell, D. A. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((High-resolution+characterization+of+defects+in+oxide+thin+films%5BTitle%5D)+AND+%22Applied+Physics+Letters%22%5BJournal%5D)">High-resolution characterization of defects in oxide thin films.</a> Applied Physics Letters. 93 (18), (2008).</li>
<li>Kalinin, S. V., Karapetian, E., Kachanov, M. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Nanoelectromechanics+of+piezoresponse+force+microscopy%5BTitle%5D)+AND+%22Physical+Review+B%22%5BJournal%5D)">Nanoelectromechanics of piezoresponse force microscopy.</a> Physical Review B. 70 (18), (2004).</li>
<li>Kolosov, O., Gruverman, A., Hatano, J., Takahashi, K., Tokumoto, H. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Nanoscale+Visualization+and+Control+of+Ferroelectric+Domains+by+Atomic-Force+Microscopy%5BTitle%5D)+AND+%22Physical+Review+Letters%22%5BJournal%5D)">Nanoscale Visualization and Control of Ferroelectric Domains by Atomic-Force Microscopy.</a> Physical Review Letters. 74 (21), 4309-4312 (1995).</li>
<li>Nikiforov, M. P., Thompson, G. L., Reukov, V. V., Jesse, S., Guo, S., Rodriguez, B. J., Seal, K., Vertegel, A. A., Kalinin, S. V. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Double-Layer+Mediated+Electromechanical+Response+of+Amyloid+Fibrils+in+Liquid+Environment%5BTitle%5D)+AND+%22Acs+Nano%22%5BJournal%5D)">Double-Layer Mediated Electromechanical Response of Amyloid Fibrils in Liquid Environment.</a> Acs Nano. 4 (2), 689-698 (2010).</li>
<li>Botiz, I., Darling, S. B. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Optoelectronics+using+block+copolymers%5BTitle%5D)+AND+%22Materials+Today%22%5BJournal%5D)">Optoelectronics using block copolymers.</a> Materials Today. 13 (5), 42-51 (2010).</li>
<li>Brabec, C. J., Heeney, M., McCulloch, I., Nelson, J. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Influence+of+blend+microstructure+on+bulk+heterojunction+organic+photovoltaic+performance%5BTitle%5D)+AND+%22Chemical+Society+Reviews%22%5BJournal%5D)">Influence of blend microstructure on bulk heterojunction organic photovoltaic performance.</a> Chemical Society Reviews. 40 (3), 1185-1199 (2011).</li>
<li>Karagiannidis, P. G., Kassavetis, S., Pitsalidis, C., Logothetidis, S. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Thermal+annealing+effect+on+the+nanomechanical+properties+and+structure+of+P3HT%3A+PCBM+thin+films%5BTitle%5D)+AND+%22Thin+Solid+Films%22%5BJournal%5D)">Thermal annealing effect on the nanomechanical properties and structure of P3HT: PCBM thin films.</a> Thin Solid Films. 519 (12), 4105-4109 (2011).</li>
<li>Sweers, K., vander Werf, K., Bennink, M., Subramaniam, V. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Nanomechanical+properties+of+alpha-synuclein+amyloid+fibrils%3A+a+comparative+study+by+nanoindentation%2C+harmonic+force+microscopy%2C+and+Peakforce+QNM%5BTitle%5D)+AND+%22Nanoscale+Research+Letters%22%5BJournal%5D)">Nanomechanical properties of alpha-synuclein amyloid fibrils: a comparative study by nanoindentation, harmonic force microscopy, and Peakforce QNM.</a> Nanoscale Research Letters. 6, (2011).</li>
<li>Nikiforov, M. P., Darling, S. B. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Improved+conductive+atomic+force+microscopy+measurements+on+organic+photovoltaic+materials+via+mitigation+of+contact+area+uncertainty%5BTitle%5D)+AND+%22Progress+in+Photovoltaics%3A+Research+and+Applications%22%5BJournal%5D)">Improved conductive atomic force microscopy measurements on organic photovoltaic materials via mitigation of contact area uncertainty.</a> Progress in Photovoltaics: Research and Applications. , (2012).</li>
<li>Li, H. -C., Rao, K. K., Jeng, J. -Y., Hsiao, Y. -J., Guo, T. -F., Jeng, Y. -R., Wen, T. -C. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Nano-scale+mechanical+properties+of+polymer%2Ffullerene+bulk+hetero-junction+films+and+their+influence+on+photovoltaic+cells%5BTitle%5D)+AND+%22Solar+Energy+Materials+and+Solar+Cells%22%5BJournal%5D)">Nano-scale mechanical properties of polymer/fullerene bulk hetero-junction films and their influence on photovoltaic cells.</a> Solar Energy Materials and Solar Cells. 95 (11), 2976-2980 (2011).</li>
<li>Mueller, C., Goffri, S., Breiby, D. W., Andreasen, J. W., Chanzy, H. D., Janssen, R. A. J., Nielsen, M. M., Radano, C. P., Sirringhaus, H., Smith, P., Stingelin-Stutzmann, N. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Tough%2C+semiconducting+polyethylene-poly%283-hexylthiophene%29+diblock+copolymers%5BTitle%5D)+AND+%22Advanced+Functional+Materials%22%5BJournal%5D)">Tough, semiconducting polyethylene-poly(3-hexylthiophene) diblock copolymers.</a> Advanced Functional Materials. 17 (15), 2674-2679 (2007).</li>
<li>Kuila, B. K., Nandi, A. K. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Physical%2C+mechanical%2C+and+conductivity+properties+of+poly%283-hexylthiophene%29-montmorillonite+clay+nanocomposites+produced+by+the+solvent+casting+method%5BTitle%5D)+AND+%22Macromolecules%22%5BJournal%5D)">Physical, mechanical, and conductivity properties of poly(3-hexylthiophene)-montmorillonite clay nanocomposites produced by the solvent casting method.</a> Macromolecules. 37 (23), 8577-8584 (2004).</li>
<li>O'Connor, B., Chan, E. P., Chan, C., Conrad, B. R., Richter, L. J., Kline, R. J., Heeney, M., McCulloch, I., Soles, C. L., DeLongchamp, D. M. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Correlations+between+Mechanical+and+Electrical+Properties+of+Polythiophenes%5BTitle%5D)+AND+%22Acs+Nano%22%5BJournal%5D)">Correlations between Mechanical and Electrical Properties of Polythiophenes.</a> Acs Nano. 4 (12), 7538-7544 (2010).</li>
<li>Tahk, D., Lee, H. H., Khang, D. -Y. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Elastic+Moduli+of+Organic+Electronic+Materials+by+the+Buckling+Method%5BTitle%5D)+AND+%22Macromolecules%22%5BJournal%5D)">Elastic Moduli of Organic Electronic Materials by the Buckling Method.</a> Macromolecules. 42 (18), 7079-7083 (2009).</li>
<li>Kuila, B. K., Nandi, A. K. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Structural+hierarchy+in+melt-processed+poly%283-hexyl+thiophene%29-montmorillonite+clay+nanocomposites%3A+Novel+physical%2C+mechanical%2C+optical%2C+and+conductivity+properties%5BTitle%5D)+AND+%22Journal+of+Physical+Chemistry+B%22%5BJournal%5D)">Structural hierarchy in melt-processed poly(3-hexyl thiophene)-montmorillonite clay nanocomposites: Novel physical, mechanical, optical, and conductivity properties.</a> Journal of Physical Chemistry B. 110 (4), 1621-1631 (2006).</li>
<li>Nikiforov, M. P., Darling, S. B. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Improved+conductive+atomic+force+microscopy+measurements+on+organic+photovoltaic+materials+via+mitigation+of+contact+area+uncertainty%5BTitle%5D)+AND+%22Progress+in+Photovoltaics%3A+Research+and+Applications%22%5BJournal%5D)">Improved conductive atomic force microscopy measurements on organic photovoltaic materials via mitigation of contact area uncertainty.</a> Progress in Photovoltaics: Research and Applications. , In Press (2012).</li>
<li>Kim, J. Y., Frisbie, D. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Correlation+of+Phase+Behavior+and+Charge+Transport+in+Conjugated+Polymer%2FFullerene+Blends%5BTitle%5D)+AND+%22Journal+of+Physical+Chemistry+C%22%5BJournal%5D)">Correlation of Phase Behavior and Charge Transport in Conjugated Polymer/Fullerene Blends.</a> Journal of Physical Chemistry C. 112 (45), 17726-17736 (2008).</li>
<li>Bange, S., Kuksov, A., Neher, D., Vollmer, A., Koch, N., Ludemann, A., Heun, S. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((The+role+of+poly%283%2C4-ethylenedioxythiophene%29%3Apoly%28styrenesulphonate%29+as+a+hole+injection+layer+in+a+blue-emitting+polymer+light-emitting+diode%5BTitle%5D)+AND+%22Journal+of+Applied+Physics%22%5BJournal%5D)">The role of poly(3,4-ethylenedioxythiophene):poly(styrenesulphonate) as a hole injection layer in a blue-emitting polymer light-emitting diode.</a> Journal of Applied Physics. 104 (10), (2008).</li>
</ol>

Nessun conflitto di interessi dichiarati.

Innovazioni più recenti in termini di efficienza di conversione di potenza (PCE) di fotovoltaico organico (OPV) cellule (spingendo il 10% a livello di cella) 3 di concerto con il rispetto ai processi di produzione ad alto rendimento e basso costo 4 hanno portato i riflettori sulla tecnologia OPV come possibile soluzione per la sfida di fabbricazione economica di celle solari di grande superficie. Materiali OPV sono intrinsecamente disomogenei su scala nanometrica. Nanoscale disomogeneità dei materiali OPV e le prestazioni dei dispositivi fotovoltaici sono intimamente connessi. Pertanto, la comprensione disomogeneità nella composizione e proprietà elettriche dei materiali OPV è di fondamentale importanza per lo spostamento in avanti della tecnologia OPV. Microscopia a forza atomica (AFM) è stato sviluppato come strumento per misure ad alta risoluzione della topografia di superficie dal 1986. 5 Al giorno d&#39;oggi, le tecniche per le proprietà dei materiali (modulo di Young, 6-10 funzione di lavoro, 11 condottamisure ivity, 12 elettromeccanica, 13-15 ecc) stanno attirando una crescente attenzione. Nel caso di materiali OPV, la correlazione di composizione della fase locale e le proprietà elettriche promettente per rivelare una migliore comprensione del funzionamento interno delle celle solari organiche. 1, 16-17 AFM tecniche basate sono in grado di ad alta risoluzione fase di attribuzione 8 e come proprietà elettriche di mappatura in materiali polimerici. Pertanto, in linea di principio, la correlazione di fase composizione polimerica (attraverso misurazioni meccaniche) 18 e proprietà elettriche è possibile utilizzando tecniche basate AFM. Molte tecniche basate AFM per misure di proprietà meccaniche ed elettriche dei materiali usare l&#39;assunzione di area costante di contatto tra la sonda AFM e la superficie. Questa assunzione spesso non riesce, che risulta in forte correlazione tra topografia superficiale e le proprietà meccaniche / elettriche. Recentemente, una nuova tecnica basata AFM perhigh-throughput misure di proprietà meccaniche (PeakForce) 19 è stato introdotto. TONNO PeakForce (variante del metodo PeakForce) fornisce una piattaforma per misure simultanee di proprietà meccaniche ed elettriche del campione. Tuttavia, il metodo di TONNO PeakForce produce mappe di proprietà meccaniche ed elettriche, che di solito sono fortemente correlati a causa della variabilità dispersi di contatto durante le misurazioni. In questo articolo presentiamo un protocollo sperimentale per la rimozione correlazioni associati con raggio variabile contatto mantenendo misurazioni accurate delle proprietà meccaniche ed elettriche mediante AFM. Attuazione dei risultati del protocollo di misure quantitative di resistenza dei materiali &quot;e modulo di Young.

<table border="1"><tbody><tr><td> Nome del reagente / materiale </td><td> Azienda </td><td> Numero di catalogo </td><td> Commenti </td></tr><tr><td> Plextronics inchiostri </td><td> Plexcore </td><td> PV 1000 </td><td></td></tr><tr><td> ITO-vetro rivestite substrati </td><td> Delta Technologies, Inc </td><td></td><td> 25 ohm / sq </td></tr><tr><td> 30 MHz sintetizzato generatore di funzioni </td><td> Stanfor Research Systems </td><td> DS345 </td><td></td></tr><tr><td> Amplificatore di corrente </td><td> Femto </td><td> DLPCA-200 </td><td></td></tr><tr><td> Multimode AFM </td><td> Veeco, Santa Barbara, CA </td><td></td><td> dotato Nanoscope-V controllore </td></tr><tr><td> Scheda DAQ </td><td> National Instruments </td><td> NI PCI-6115- </td><td></td></tr><tr><td> Metallo Pt sonde </td><td> RMNano </td><td> 12Pt3008 </td><td></td></tr><tr><td> MATLAB software </td><td> Mathworks </td><td></td><td></td></tr><tr><td> LabView software </td><td> National Instruments </td><td></td><td></td></tr></tbody></table>

concurrent conducibilità quantitativa e meccaniche misure proprietà dei materiali organici fotovoltaici utilizzando afm

Concurrent Quantitative Conductivity and Mechanical Properties Measurements of Organic Photovoltaic Materials using AFM

Organici fotovoltaici (OPV) i materiali sono per loro natura non omogenea su scala nanometrica. Nanoscale disomogeneità dei materiali OPV influisce sulle prestazioni dei dispositivi fotovoltaici. Pertanto, la comprensione delle variazioni spaziali nella composizione e proprietà elettriche dei materiali OPV è di fondamentale importanza per lo spostamento in avanti della tecnologia fotovoltaica. 1,2 In questo lavoro, si descrive un protocollo per la misurazione quantitativa di proprietà elettriche e meccaniche dei materiali OPV con sub -100 nm risoluzione. Attualmente, le proprietà dei materiali misurazioni effettuate utilizzando disponibili in commercio a base di tecniche di AFM (PeakForce, AFM conduttivo) generalmente forniscono solo informazioni di tipo qualitativo. I valori di resistenza e modulo di Young misurato con il nostro metodo sul prototipo ITO / PEDOT: PSS/P3HT: PC 61 sistema BM corrispondono bene con i dati della letteratura. Il P3HT: PC 61 miscela BM separa sul PC 61 BM-ricchi e P3HT ricco di domains. Proprietà meccaniche del PC 61 domini ricchi e BM-P3HT-ricchi sono diversi, che consente di attribuzione dominio sulla superficie della pellicola. Soprattutto, combinando i dati meccanici ed elettrici consente per la correlazione della struttura dei domini sulla superficie del film con proprietà elettriche variazione misurata attraverso lo spessore del film.

Modulo di Young e resistività mappe (Figura 3) presenti risultati tipici delle misurazioni sopra descritte. Proprietà meccaniche ed elettriche del ITO / PEDOT: PSS/P3HT: PC 61 pila BM stati misurati al negativo (-10 V) e positivo (+6 V) tensioni applicate alla sonda AFM. Artefatti di imaging, associati all&#39;interazione elettrostatica tra la sonda AFM e il campione, sono un problema comune per le misure quantitative di proprietà funzionali utilizzando AFM. La somiglianza di grandezza moduli...

Organici fotovoltaici (OPV) i materiali sono per loro natura non omogenea su scala nanometrica. Nanoscale disomogeneità dei materiali OPV influisce sulle prestazioni dei dispositivi fotovoltaici. In questo articolo, si descrive un protocollo per la misurazione quantitativa di proprietà elettriche e meccaniche dei materiali OPV con sub-risoluzione di 100 nm.

Concurrent conducibilità quantitativa e meccaniche Misure Proprietà dei materiali organici fotovoltaici utilizzando AFM

Organic photovoltaic  (OPV) materials are inherently inhomogeneous at the nanometer scale. Nanoscale  inhomogeneity of OPV materials affects performance ...

L'obiettivo generale del seguente esperimento è comprendere i meccanismi di conducibilità nelle miscele polimeriche di fullerene con separazione di fase, attraverso la correlazione tra morfologia e prestazioni elettriche. La morfologia e le proprietà elettriche delle miscele polimeriche sono due fattori principali che ne determinano il rendimento all'interno delle celle solari organiche. La correlazione tra morfologia e prestazioni elettriche dei campioni viene ottenuta mediante misurazioni simultanee delle proprietà meccaniche ed elettriche del campione, effettuate utilizzando un microscopio a forza atomica dotato di un controller e un sistema di acquisizione dati realizzati in laboratorio.Viene utilizzato per raccogliere dati con risoluzione spaziale sulla dipendenza dalla distanza della forza tra la sonda AFM e la superficie del campione, nonché sulla dipendenza dalla distanza della corrente tra la sonda AFM e il campione; come secondo passaggio, eseguire un'analisi automatica delle curve forza-distanza e corrente-distanza raccolte in ciascun punto della scansione. Ciò produce mappe ad alta risoluzione di contatto, rigidità, forza di distacco e corrente. Successivamente, applica

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Misurare le proprietà meccaniche del Living cellule utilizzando microscopia a forza atomica

Sono stati compiuti progressi nell'utilizzo dello scattering dell'incidenza di pascolo risolto dall'eco di spin (SERGIS) come tecnica di scattering neutronico per sondare le scale di lunghezza in campioni irregolari. Cristalliti di [6,6]-fenil-C61-estere metile acido butirrico sono stati sondati usando la tecnica SERGIS e i risultati confermati dalla microscopia a forza ottica e atomica.

Utilizzo dello scattering di incidenza di pascolo risolto neutroni Spin Echo per indagare i materiali organici delle celle solari

Questo protocollo sperimentale descrive come la microscopia a forza atomica può essere utilizzata per misurare la durezza su scala nanometrica reale e per rilevare singoli eventi di plasticità atomistica.

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In questo articolo, descriviamo elettrochimica, risonanza paramagnetica elettronica e ultravioletto-visibile e vicino infrarosso Spettroelettrochimica metodi per analizzare composti organici per applicazioni in elettronica organica.

Mediante voltammetria ciclica, UV-Vis-NIR ed EPR Spectroelectrochemistry per analizzare composti organici

Qui, presentiamo la microscopia a forza atomica (AFM), operata come strumento di nano- e micro-rientranza su cellule e tessuti. Lo strumento consente l'acquisizione simultanea della topografia della superficie 3D del campione e delle sue proprietà meccaniche, tra cui il modulo della parete cellulare Young e la pressione del turgor.

Uso della microscopia a forza atomica per misurare le proprietà meccaniche e la pressione del turgor delle cellule vegetali e dei tessuti vegetali

L'attaccamento covalente delle molecole della sonda alle punte a sbalzo a forza atomica (AFM) è una tecnica essenziale per lo studio delle loro proprietà fisiche. Questo ci permette di determinare la forza di stiramento, la forza di desorption e la lunghezza dei polimeri tramite la spettroscopia a forza singola a singola molecola basata su AFM con elevata riproducibilità.

Attacco covalente di singole molecole per la spettroscopia della forza basata su AFM

La microscopia a forza atomica (AFM) combinata con la microscopia elettrochimica a scansione (SECM), vale a dire, AFM-SECM, può essere utilizzata per acquisire simultaneamente informazioni topografiche ed elettrochimiche ad alta risoluzione sulle superfici dei materiali su scala nanometrica. Tali informazioni sono fondamentali per comprendere proprietà eterogenee (ad esempio, reattività, difetti e siti di reazione) su superfici locali di nanomateriali, elettrodi e biomateriali.

Sondare l'attività elettrochimica superficiale dei nanomateriali utilizzando un microscopio elettrochimico a scansione microscopia a forza atomica ibrida (AFM-SECM)

Gli studi sulla biomeccanica della parete cellulare sono essenziali per comprendere la crescita e la morfogenesi delle piante. Il seguente protocollo è proposto per studiare le pareti cellulari primarie sottili nei tessuti interni di giovani organi vegetali utilizzando la microscopia a forza atomica.

Caratterizzazione delle proprietà meccaniche della parete cellulare primaria in organi vegetali viventi mediante microscopia a forza atomica

La quantificazione dell'area di contatto e della forza applicata dalla punta di una sonda a forza atomica (AFM) su una superficie del campione consente la determinazione delle proprietà meccaniche su scala nanometrica. Vengono discusse le migliori pratiche per implementare la nanoindentazione basata su sbalzo AFM in aria o fluido su campioni morbidi e duri per misurare il modulo elastico o altre proprietà nanomeccaniche.

Microscopia a forza atomica Nanoindentazione basata su sbalzo: misure di proprietà meccaniche su scala nanometrica in aria e fluido

L'ispezione di campioni su larga scala con risoluzione su scala nanometrica ha un'ampia gamma di applicazioni, in particolare per i wafer semiconduttori nanofabbricati. I microscopi a forza atomica possono essere un ottimo strumento per questo scopo, ma sono limitati dalla loro velocità di imaging. Questo lavoro utilizza array a sbalzo attivi paralleli in AFM per consentire ispezioni ad alta produttività e su larga scala.

Microscopia a forza atomica con sonda attiva con array a sbalzo Quattro-Parallel per l'ispezione di campioni su larga scala ad alta produttività

Scopri le misure quantitative di conducibilità e proprietà meccaniche di materiali fotovoltaici organici utilizzando la microscopia a forza atomica. Questo metodo consente di correlare morfologia e prestazioni elettriche.

Concurrent conducibilità quantitativa e meccaniche Misure Proprietà dei materiali organici fotovoltaici utilizzando AFM

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