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DOI: 10.3791/63533-v
Ines Rauschert*2, Juan Claudio Benech*2, Martha Sainz1, Omar Borsani1, Mariana Sotelo-Silveira1
1Laboratorio de Bioquímica, Departamento de Biología Vegetal, Facultad de Agronomía,Universidad de la República (UdelaR), 2Laboratorio de Señalización Celular y Nanobiología,Instituto de Investigaciones Biológicas Clemente Estable (IIBCE)
Please note that some of the translations on this page are AI generated. Click here for the English version.
The atomic force microscopy indentation protocol enables the analysis of the physical properties of plant cell walls during growth. This method is particularly useful for studying changes under conditions such as water deficit.
Il protocollo di indentazione della microscopia a forza atomica offre la possibilità di sezionare il ruolo delle proprietà fisiche della parete cellulare di una particolare cellula di un tessuto o organo durante la crescita normale o limitata (cioè in deficit idrico).
Questo metodo consente di quantificare i cambiamenti nelle proprietà fisiche della parete cellulare della pianta durante lo sviluppo e di correlare questi cambiamenti microscopici alla crescita di un intero organo. Il vantaggio principale di questa tecnica è che non è invasiva e non richiede alcun trattamento che consenta la quantificazione in vivo delle proprietà fisiche della parete cellulare e la risoluzione subcellulare relativamente rapida. Per iniziare, stendere un sottile strato di colla siliconica nella capsula di Petri con un vetrino di copertura e lasciarlo in aria per 45 secondi.
Usando una pinzetta, posiziona la piantina sulla colla e orienta la sua direzione per evitare il contatto tra le parti sporgenti della piantina e il cantilever. Quindi premere delicatamente la radice sullo strato di colla siliconica per legarlo saldamente. Lasciare agire per 45 secondi e aggiungere la soluzione PBS 1X.
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