유사에 부정적인 얼룩 전자 현미경 검사 법 방법: 시스템에 도전 하는 태 클을 위한 도구

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06:06 분

2018년 2월 6일

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부정적인 얼룩 EM 고분자 구조를 시각화를 위한 강력한 기술 이지만 다른 얼룩 기법 샘플 종속 방식에서 다양 한 결과 얻을 수 있습니다. 여기 몇 가지 부정적인 얼룩 방법은 도전 시스템의 시각화를 태 클을 위한 초기 워크플로 제공 하는 자세히 설명 되어 있습니다.

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그리드 준비 기술

Chapters in this video

0:05

제목

0:30

탄소 기질에 시료 흡착시키기

1:07

사이드 블롯법을 이용한 염색

2:25

플리킹법을 이용한 염색

3:24

급속 플러싱법을 이용한 염색

4:12

결과: 전자현미경을 위한 이상적인 음성 염색은 시료에 따라 다름

5:36

결론

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