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자기 소용돌이 연구 전송 현미경 검사 법 기술을 사용 하 여 실리콘 질 화 막에 자석 Nanostructures의 제조
Synchrotron X-ray Microdiffraction and Fluorescence Imaging of Mineral and Rock Samples
Journal (Engineering)
Synchrotron X-ray Microdiffraction and Fluorescence Imaging of Mineral and Rock Samples
Frequency Mixing Magnetic Detection Scanner for Imaging Magnetic Particles in Planar Samples
Journal (Engineering)
Frequency Mixing Magnetic Detection Scanner for Imaging Magnetic Particles in Planar Samples
 
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자기 소용돌이 연구 전송 현미경 검사 법 기술을 사용 하 여 실리콘 질 화 막에 자석 Nanostructures의 제조

Article DOI: 10.3791/57817-v • 06:27 min • July 2nd, 2018
July 2nd, 2018 •
1, 1, 1
1CEITEC BUT, Brno University of Technology

Chapitres

résumé
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마그네틱 마이크로-및 자석 vortices 전송 전자 현미경 (TEM) 및 자석 전송 엑스레이 현미경 검사 법 (MTXM) 연구에 적합을 형성 하는 스핀 구성 nanostructures의 제조에 대 한 프로토콜 제공 됩니다.

Tags

공학 문제 137 자기 소용돌이 로렌츠 전송 전자 현미경 검사 법 LTEM 자석 전송 엑스레이 현미경 검사 법 MTXM nanofabrication 전자 빔 리소 그래피 EBL
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