Waiting
로그인 처리 중...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Chemistry / In Situ SIMS og IR-spektroskopi veldefinerede…
JoVE Journal
Chemistry

JoVE 비디오를 활용하시려면 도서관을 통한 기관 구독이 필요합니다. 전체 비디오를 보시려면 로그인하거나 무료 트라이얼을 시작하세요.

JoVE Journal Chemistry
In Situ SIMS og IR-spektroskopi veldefinerede Overflader Udarbejdet af Soft Landing af Mass udvalgte ioner
Nanoparticle Tracking Analysis of Gold Nanoparticles in Aqueous Media through an Inter-Laboratory Comparison
Journal (Chemistry)
Nanoparticle Tracking Analysis of Gold Nanoparticles in Aqueous Media through an Inter-Laboratory Comparison
Fluorescence-based Monitoring of PAD4 Activity via a Pro-fluorescence Substrate Analog
Journal (Chemistry)
Fluorescence-based Monitoring of PAD4 Activity via a Pro-fluorescence Substrate Analog
 
Click here for the English version

In Situ SIMS og IR-spektroskopi veldefinerede Overflader Udarbejdet af Soft Landing af Mass udvalgte ioner

Article DOI: 10.3791/51344-v • 10:22 min • June 16th, 2014
June 16th, 2014 •
1, 1, 1
1Physical Sciences Division, Pacific Northwest National Laboratory

챕터

요약
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Blød landing af masse-udvalgte ioner på overflader er en kraftfuld metode til den meget kontrollerede udarbejdelse af nye materialer. Kombineret med analyse af in situ sekundær ion massespektrometri (SIMS) og infrarød refleksion absorption spektroskopi (IRRAS), blød landing giver hidtil usete indsigt i samspillet mellem veldefinerede arter med overflader.

Tags

Kemi blød landing masse udvalgte ioner elektronstråler sekundær ion-massespektrometri infrarød spektroskopi organmetalliske katalyse
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter