Summary
وتقدم هذه المادة بروتوكولا لاعداد مصدر سيلادونيت وتقدير سطوعه للاستخدام في التصوير طويل المدى الكترون منخفضه الطاقة المجهر الإسقاط المصدر نقطه.
Abstract
الكترون celadونيتي مصدر وصفها هنا ينفذ بشكل جيد في الكترون الطاقة المنخفضة نقطه المصدر المجهر الإسقاط في التصوير بعيد المدى. وهو يقدم مزايا رئيسيه مقارنه بالنصائح المعدنية الحاده. متانة لها يتيح مدي الحياة من أشهر ويمكن استخدامه تحت ضغط عال نسبيا. يتم إيداع الكريستال celadونيتي في قمة من ألياف الكربون ، والحفاظ علي نفسها في هيكل محوري ضمان شكل شعاع كرويه وسهله لتحديد المواقع الميكانيكية لمحاذاة المصدر ، والكائن ومحور الكترون-البصرية النظام. هناك ترسب بلوري واحد عبر جيل من قطرات الماء التي تحتوي علي سيلادنيت مع ماصات مجهريه. يمكن اجراء فحص المجهر المجهري الكتروني للتحقق من الترسب. ومع ذلك ، فان هذا يضيف خطوات التالي يزيد من خطر اتلاف المصدر. التالي ، بعد الاعداد ، وعاده ما يتم ادراج المصدر مباشره تحت فراغ في المجهر الإسقاط. يوفر أول الجهد العالي العرض ركله قباله اللازمة لبدء الانبعاثات الكترون. ثم تقاس عمليه الانبعاثات الميدانية المعنية: فقد لوحظ بالفعل بالنسبة لعشرات من مصادر الكترون التي أعدت بهذه الطريقة. والسطوع اقل من المقدرة من خلال تقدير مفرط لحجم المصدر ، وكثافة في واحده من الطاقة وزاوية مخروط تقاس في نظام الإسقاط.
Introduction
وقد درست الهياكل المعدنية/العازلة المستخدمة للانبعاثات الكترون لما يقرب من 20 عاما بسبب المجال المجهري المنخفض1. المجال الكهربائي المعنية هي فقط من أجل بعض v/μm2،3،4، علي النقيض من الخامس/نانومتر المطلوبة للانبعاثات حقل الكلاسيكية مع نصائح معدنيه حاده5،6،7. وهذا يفسر علي الأرجح البداية البلازما التصريف التي هي مفيده جدا في تقنيات مصدر الكترون. منذ بضع سنوات ، سعينا لاستكشاف هذا الانبعاث الميداني المنخفض عن طريق إيداع الأفلام من العوازل الطبيعية علي طبقات الكربون نقل الكترون8. وقد تم اختيار سيلادونيت ، وهو معدن عازل وجد في البازلت من الفخاخ بارانا في مناجم Ametista دي سول في البرازيل.
عندما celadonite هو الأرض ، وشكل الكريستال هو بلاطه مستطيله مع ابعاد ميكرومتر وسمك اقل من 100 نانومتر (عاده: 1,000 nm x 500 nm x 50 nm). فمن مسطح تماما ويمكن التعرف عليها في المسح المجهري الكترون (الشكل 1). يتم تشكيل الفيلم عن طريق ترسب قطره الماء التي تحتوي علي سيلادونيت علي طبقه الكربون. كما يزيد الجهد المطبق ، فانه تنبعث الكترونات بعد نظام فاولر-نوردهايم مع التشبع كثافة لاعلي الفولتية. وأظهرت دراسة باستخدام الحجاب الحاجز في نظام الإسقاط ان باعث واحد هو مصدر مثل نقطه9. ومع ذلك ، استخدام هذا الفيلم الكبير مع الحجاب الحاجز لتحديد المصدر لم تستغل إمكانات نقطه المصدر. فعلي سبيل المثال ، تسمح المصادر النقطية المستخدمة عاده في المجهر المجهري الخاص بالطاقة المنخفضة المصدر بوجود مسافة بين المصدر والكائن تبلغ حوالي 100 نانومتر. ومع ذلك ، ستكون هذه المسافة من مصدر إلى كائن خارج السؤال مع فيلم. وكان العثور علي طريقه لعزل بلوره واحده حتى تكون قادره علي نقل شيء نحو هذا المصدر الكترون تحديا. وكان الحل الأول ، لاستخدام ألياف الكربون 10 μm: إيداع قطره في قمة ألياف يحد بالضرورة من عدد بلورات celadونيتي. ثانيا ، قررنا الحد من حجم القطيرات: يتم تعبئة الماصة المجهرية مع طرف من حوالي 5 ميكرون مع المياه المحتوية علي celadونيتي ويتم تطبيق الضغط عند مدخل الماصة لإنشاء قطره صغيره لترطيب قمة ألياف. ويفصل البروتوكول عمليه اعداد المصدر الكامل.
المصدر الناتج هو نقطه محوريه مصدر السماح محاذاة جيده بين المصدر ، والكائن والكترون البصرية النظام10. لان قطرها 10 μm لا تزال أوسع من النصائح حاده جدا ، ويقتصر المسافة من مصدر إلى كائن لبعض عشرات من ميكرومتر. ومع ذلك ، فقد أظهرنا مؤخرا ان باعث المصدر celadونيتي مجتمعه مع عدسه Einzel يؤدي بالمقارنة إلى المجهر الإسقاط نقطه المصدر الكلاسيكية. التصوير بعيد المدى بذلك يجعل يتيسر حتى يحد الحشوة تاثير11 علي الشيء والصورة تشويات تضمن12,13. كما يقدم مصدر celadونيتي المزايا الرئيسية مقارنه بالنصائح المعدنية الحاده. هو قويه: ال [بوينت-سورس] تحت البلورة ولذلك حميت ضد اخرق. يمكن ان يعمل المصدر تحت ضغط عال نسبيا: تم اختباره في 10-2 ميليبار خلال بضع دقائق. الا ان عمرها واستقرارها لا يزالان يعتمدان علي الظروف الفراغية الصحيحة. نحن عاده توظيف مصدر celadونيتي في 10-8 ميليبار والحصول علي مدي الحياة من أشهر.
ويهدف هذا المقال لمساعده جميع أولئك الذين يرغبون في استخدام مصدر celadونيتي لإنتاج شعاع الكترون متماسكة.
Subscription Required. Please recommend JoVE to your librarian.
Protocol
1-اعداد المصدر
ملاحظه: في المجهر لدينا ، ويتكون المصدر-الدعم من لوحه السيراميك الزجاج القابلة للإله من الذي يخرج 1 سم من أنبوب الفولاذ المقاوم للصدا من 90 μm القطر الداخلي مع اتصال كهربائي علي لوحه.
- اعداد ألياف
- إصلاح دعم المصدر تحت المجهر البصري.
- ادراج ألياف الكربون 10 μm في أنبوب الفولاذ المقاوم للصدا. الغراء ألياف الكربون إلى أنبوب مع ورنيش الفضة.
- قطع ألياف مع ملاقط القطع (تحت مجهر منظار) بحيث يتم ترك ما بين 100 μm و 3 ملم خارج أنبوب الفولاذ المقاوم للصدا.
ملاحظه: ألياف الكربون هشه. ترك أكثر من 1 سم خارج الأنبوب سوف تزيد من فرصه لكسر الهيكل اثناء التلاعب.
- اعداد المياه المحتوية علي سيلادنيت
- طحن celadونيتي مع هاون ومدقه.
- تزن 0.2 ملغ من مسحوق celadونيتي وتمييع في 10 مل من الماء منزوع الأيونات.
- استخدام طرف الموجات فوق الصوتية مباشره في 10 مل من المياه المحتوية علي celadونينيت لكسر المجاميع. عاده ، استخدام تردد الموجات فوق الصوتية من 30 كيلو هرتز لقوه 50 W أكثر من 30 ثانيه.
- اعداد بيئة الترسيب
- قم بتوصيل حامل شعري بجهاز تحكم بالضغط.
- الحفاظ علي حامل الشعرية تحت المجهر البصري مع متعدد الاتجاات الصغرى التلاعب.
- ضع الدعم مع ألياف الكربون التي تواجه حامل الشعرية تحت المجهر البصري.
- ترسيب سيلادونيت
- اسحب الماصة الصغيرة ذات القطر الداخلي من 2-10 ميكرومتر للسماح بتدفق الماصات المشتتة دون انسداد.
- إصلاح الشعرية الزجاج في الفك ساحبه. ضمان المعلمات ساحبه الحق وفقا لحجم ماصه التصحيح (الجدول 1). أملا الماصات الدقيقة بالماء المحتوي علي سيلينيت.
- تركيب الماصات المجهرية علي حامل الشعرية تحت المجهر. محاذاة الماصة المجهرية وألياف الكربون تحت المجهر البصري.
- اقترب من الماصة الصغيرة ، إلى مسافة 2-10 ميكرومتر من قمة ألياف الكربون.
- تطبيق الضغط التدريجي علي دخول واسعه إلى ميكروماص. بشكل عام ، تطبيق 100 ميليبار بحيث نماذج قطره في الطرف ولكن لا تسقط. هذا الانخفاض يبلل قمة من ألياف الكربون.
- اسحب الماصة المجهرية.
- اسحب الماصة الصغيرة ذات القطر الداخلي من 2-10 ميكرومتر للسماح بتدفق الماصات المشتتة دون انسداد.
2-ركل المصدر
ملاحظه: في المجهر لدينا ، يتم إصلاح المصدر-الدعم علي شفه الدورية اليدوية تحمل أيضا المحرك بيزو الكهربائية التي تتحرك (100 nm القرار ، ومجموعه 25 ملم) ، مع الأمر الكهربائية ، والكائن نسبه إلى المصدر (انظر الشكل 2). هذا الكائن يلعب دور الآنود الكهربائية للانبعاثات الكترون; هو عموما أسست كهربائيا ووضعت امام المصدر. في تجربتنا ، والفولتية هي اليد التي تسيطر عليها مع إمدادات الطاقة المختلفة.
- تثبيت حامل المصدر تحت فراغ.
- ربط ألياف الكربون والكائن إلى اثنين من فيدثروغس الكهربائية عاليه الجهد.
- التحقق من الاستمرارية الكهربائية للاتصالات في كل مكان: كائن الآنود ، والعدسة والشاشة ؛ بدوره علي ضخ فراغ.
- توصيل نانو متر من عيار في نطاق μA بين الكائن والأرض الكهربائية.
- زيادة الجهد التحيز السلبية المطبقة علي المصدر ببطء ، في ما يقرب من 1 V/s. ان الآنود يكون 1 [م] بعيدا من المصدر, يبدا البداية في حوالي 2 [كف]. زيادة حده فجاه.
- تقليل الجهد لتحقيق الاستقرار في كثافة حوالي مائه nA. في البداية ، يمكن ان تتقلب الكثافة علي عده أوامر من حجم.
- ترك النظام متقلب لعده ساعات ، حتى تنخفض التقلبات. قطع التيار الكهربائي عندما تكون التقلبات اقل من 10 ٪.
3-توصيف المصدر
ملاحظه: نحن نقدم وسيله لتحقيق خصائص المصدر. لتقدير سطوع المصدر ، يتم استخدام مجاهر الإسقاط اثنين. في هذه الاجهزه ، يتم ملاحظه ظل كائن علي شاشه الفلورسنت وضع بعيدا (الشكل 2). المصدر (الكاثود) والكائن (الآنود) هي التي شنت علي شفه التلاعب الصغرى ويمكن ان تدور معا في الطائرة الإسقاط. يسمح اعداد الإسقاط القصير البسيط بشاشه فلورية بإسقاط التكبير المنخفض. الاعداد الثاني ينطوي علي عدسه كهرباء ومزدوج القناة الصغرى لوحه/الفلورسنت الشاشة لاقوي التكبير12. وتستخدم المعلومات المتاحة عن كل صوره إسقاط لتقدير السطوع: أصغر التفاصيل في السجل13. يعتمد هذا التفصيل المرئي الأصغر علي حجم المصدر الظاهر ، والذي يتضمن التمويه الهندسي بحجم المصدر ، والاهتزازات بين الكائن والمصدر ، ودقه الكاشف.
- قياس زاوية المخروط
- تحويل المصدر نحو الاعداد الإسقاط بسيطه ، مع شفه الدورية ، لمراقبه شعاع الكترون.
- تقليل المسافة بين المصدر والشاشة ، مع التلاعب الدقيق اليدوي ، للحصول علي البقعة بأكملها علي الشاشة ؛ ثم ، قياس المسافة المصدر إلى الشاشة ، D.
- التقاط الصور من الشاشة عن طريق تغيير الزاوية بين شعاع الكترون والعادي إلى الشاشة ، مع شفه الدورية.
- ارسم التشكيل الجانبي لكثافة المستوي الرمادي علي طول محور واحد وحدد نصف قطر الانبعاثات ، R عند المسافة المعطية من المصدر إلى الشاشة D (الشكل 3).
- حساب زاوية مخروط:
مع R، دائره نصف قطرها الانبعاثات في المسافة من مصدر إلى شاشه معينه ، D.
- قياس مؤامرة فاولر-نوردهايم
- قياس كثافة الانبعاثات مقابل الجهد المطبق علي المصدر: i (V) مع i كثافة تقاس في الآنود و V الجهد المطبق في ألياف الكربون.
- مؤامرة
. يظهر منحني انخفاض خط مستقيم مع التشبع لاعلي الجهد. ويرد مثال علي ذلك في الشكل 4. أطول خط مستقيم هو التوقيع علي عمليه الانبعاثات الميدانية.
- قياس حجم المصدر
- تحويل المصدر نحو عدسه كهرباء ، مع شفه الدورية.
- إنتاج صوره الإسقاط التي تحتوي علي نمط انكسار فريسنل ضخمه علي طول حافه الكائن: مطلوب التكبير حوالي 20 ، 000x. في المجهر لدينا ، وهذا ممكن مع المسافة من مصدر إلى كائن من بعض 100 μm ، ثابته مع المحركات بيزو ، وعدسه كهرباء اينزيل.
- قياس أدق التفاصيل المرئية علي الصورة علي الشاشة (الشكل 5).
ملاحظه: يتم استخدام المسافة الأكبر من هامش إلى هامش ، δ. - حساب حجم المصدر:
.
مع R، دائره نصف قطرها الانبعاثات في المسافة من مصدر إلى شاشه معينه ، D.
. يظهر منحني انخفاض خط مستقيم مع التشبع لاعلي الجهد. ويرد مثال علي ذلك في الشكل 4. أطول خط مستقيم هو التوقيع علي عمليه الانبعاثات الميدانية.
.Subscription Required. Please recommend JoVE to your librarian.
Representative Results
تم الحصول علي العديد من المسح المجهري الكترون من ألياف الكربون أعدت علي النحو المفصل في البروتوكول في SEM في 15 kV. مصادر يحمل واحده, أحيانا اثنان, بلورات في قمتهم (شكل 1). ومع ذلك ، فان استخدام SEM ينطوي علي دعم آخر للألياف الكربونية ، والتي من الصعب ان جبل وانتزع شيئا دون كسر. فمن أكثر أمانا لمحاولة البث الكترون المباشر. تم اختبارها في مجهر الإسقاط (الشكل 2) ، كل مصدر أعد بهذه الطريقة المنبعثة. الانطلاق مطلوب مره واحده فقط. مع المصادر القديمة ، في بعض الأحيان ، يمكن استخدام ركله قباله لمصدر آخر.
وتظهر معظم هذه المصادر مصدرا واحدا للنقاط (الشكل 3): يشير ملف تعريف الانبعاثات إلى صوره مستمرة واحده فقط دون اي بقعه أخرى. شعاع لديه زاوية مخروط حوالي 1srd.
المؤامرة فاولر-نوردهايم يسلك 10 أوامر من حجم مستقيم والتشبع في الجهد العالي (الشكل 4). يعتمد نظام التشبع الذي تم الحصول عليه للجهد الكهربي المعطي علي البنية ، ولكن ينخفض الميل بشكل منتظم لزيادة الكثافة الحالية من حوالي 10 μA.
لا يقاس توزيع الطاقة هنا ، لان دقه الطاقة ليست جيده بما يكفي للحصول علي دقه أفضل من eV قليله ببساطه عن طريق التجعيد مدخل كاشف. وثمة نقطه أخرى هي انه يمكن ملاحظه أنماط هامشيه عاليه التنظيم في بعض الصور المجسمة التي ترفض توزيعا كبيرا للطاقة من شانه طمس هذه الأنماط. وبما ان العملية المعنية هي نظام فاولر-نوردهايم ، فمن المتوقع ان يتم توزيع الطاقة بالقرب من 250 meV14.
ويقدر حجم المصدر عن طريق قياس أصغر التفاصيل علي الصورة المنتجة. هذه الصورة هي نمط انكسار فريسنل للكائن. وفي هذا الصدد ، يعزي فقدان هامش التداخل إلى حجم المصدر (الشكل 5) ؛ هذا هو وسيله لتقدير الإفراط في هذا القياس. في هذه الحالة ، يكون نصف قطر المصدر أصغر من 
4nm. وأخيرا ، يتم الحصول علي سطوع المصدر 
،. الطريقة المعروضة هنا تحت-تقديرات السطوع لان حجم المصدر أصغر بالضرورة.
شكل 1: [كربون ليف] مع [سلدنيت] يرسب علي هو (سهم خضراء), يلاحظ مع مسح الكترون مجهر. أقحم: نموذجيه عن قرب من الكريستال celadونيتي. يرجى النقر هنا لعرض نسخه أكبر من هذا الرقم.
الشكل 2: الاعداد التجريبي. المجهر الكترون الإسقاط باستخدام سيلادونيت علي مصدر الكربون وعدسه كهرباء. واعداد الإسقاط البسيط. يرجى النقر هنا لعرض نسخه أكبر من هذا الرقم.
الشكل 3: قياس زاوية المخروط. (ا) الاعداد التخطيطي مع الإسقاط-المسافة D = 5 سم و ، α ، الزاوية بين ألياف الكربون والعادي من الشاشة. يتم تغيير α يدويا لمراقبه نمط الانبعاثات (c) ولقياس ملف تعريف الانبعاثات ، علي طول الخط الأزرق المتقطع ، الذي تم الحصول عليه علي الشاشة ل α = 0 ° (b). لاحظ ان الإسقاط من الشبكة يظهر في التشكيل الجانبي ككثافة فارغه ولكن من الواضح ، كثافة الملف الشخصي هو غاوسي مع تمديد حوالي 5 سم. الرجاء النقر هنا لعرض نسخه أكبر من هذا الرقم.
الشكل 4: مؤامرة فاولر-نوردهايم لمصدر سيلادنيت. يرجى النقر هنا لعرض نسخه أكبر من هذا الرقم.
الشكل 5: قياس أدق التفاصيل في الصورة إلى الإفراط في تقدير حجم المصدر. يتم رسم ملف التعريف (a) علي طول الخط الأبيض في الصورة (b). (ج) تفاصيل عن (ب). يرجى النقر هنا لعرض نسخه أكبر من هذا الرقم.
| الحراره | خيوط | السرعه | تاخير | سحب |
| 450 | 3 | 5 | 200 | 120 |
| 350 | 4 | 40 | 200 | 0 |
الجدول 1: سحب المعلمات للحصول علي قطر النهاية الداخلية من 2-10 μm.
Subscription Required. Please recommend JoVE to your librarian.
Discussion
هذا البروتوكول ليس حرجا لان هندسه المصدر بمقياس مجهري يتغير من مصدر واحد إلى آخر. والصعوبة هي انه بما ان ألياف الكربون هشه ، فان قطعها يمكن ان يؤدي إلى طول غير مناسب. طول كاف حوالي 500 μm; الشكل المجهري للقطع ليس حاسما. الخطوة الحاسمة هي ان يكون عدد صغير جدا من البلورات (من الناحية المثالية واحده) المودعة علي قمة سلك موصل. تكييف تركيز الكريستال مع حجم المودعة هي النقطة الأكثر اهميه. إذا العديد من البلورات التجميعية ، يتم ثبط الانبعاثات. هنا ، ونحن وصف طريقه لأداره هذا. نظرا لإجراءات الانطلاق ، إذا تم إيداع عدد قليل من البلورات ، واحد فقط منهم هو المسؤول أخيرا عن الانبعاثات. وثمة مطلب آخر هو بناء هيكل جاحظ من أجل الاقتراب من الآنود والحصول علي انبعاثات توجيهيه. هذا يستطيع لا يكون حققت ان [سلدنيت]-بلورات كان أودعت علي [كربون فيلم] بما ان في دراسات سابقه.
يتم الآن استخدام مصدر celadونيتي الكترون بانتظام في الكترون منخفضه الطاقة المجهر الإسقاط المصدر نقطه ، المرتبطة بنظام عدسه Einzel. بسبب السطوع عال من المصدر, في هذا كبيره عمل بعد من 600 μm, نلت قرار من حوالي 30 [نم] عموما12. في نقطه الإسقاط المجاهر ، والعمل في مثل هذه المسافة الكبيرة مصدر الكائن مريحه ومفيده. وعلاوة علي ذلك ، فان مسافات العمل الكبيرة هذه تتجنب اي اثار ميدانيه علي الجسم. ان كثافة الانبعاثات العالية التي يوفرها هذا المصدر تمكن من الحصول علي الصور بمعدل فيديو يبلغ حوالي 500 صوره/ثانيه ، ومتانة المصدر هي ميزه عمليه علي النصائح الكلاسيكية لانبعاثات المعادن في الحقول. الا في المجهر لدينا ، وهذا المصدر وضعت مؤخرا لم تستخدم حتى الآن في مجهر آخر. ويمكن ان تكون اضطرابات الانبعاثات التي تم قياسها سابقا إشكاليه بالنسبة لمجهر المسح. وعلي الرغم من ان هذه الاضطرابات يمكن ملاحظتها اثناء تصوير الإسقاط النقطي ، فان موقع البث مستقر ، مما يجعل الصورة في المتوسط ممكنة. مقارنه بالمصادر المعدنية الكلاسيكية للتكبير المتطابق ، فان الصور المجسمة التي تم الحصول عليها مع المصدر الحالي متطابقة ولكن تم الحصول عليها لمسافة عمل أكبر بكثير. الحل المكاني النهائي هو في الحاضر مشكله تجريبية مفتوحة.
Subscription Required. Please recommend JoVE to your librarian.
Disclosures
وليس للمؤلفين مصالح مالية متنافسة.
Acknowledgments
ويود أصحاب البلاغ ان يشكروا مارجوري سوشيكو علي تحسين اللغة الانكليزيه لهذه المادة.
Materials
| Name | Company | Catalog Number | Comments |
| Carbon fiber filament | Goodfellow | C 005711 | |
| Carbon fiber filament | Mitsubishi Chemical | DIALEAD | |
| Carbon fiber filament | Solvay | THORNEL P25 | |
| Carbon fiber filament | Zoltek | PX35 Continuous Tow | |
| Celadonite | Verona Green earth / pigment | ||
| Dual-stage microchannel plate and fluorescent screen assembly | Hamamatsu | F2225-21S | |
| Flow controller | Elveflow | OB1 | |
| Machinable glass ceramic | Macor | ||
| Micropipette Puller | Sutter Instruments | P2000 | |
| Piezo-electric actuators | Mechonics | MS30 | |
| Quartz capillary | Sutter Instrument | B100-75-15 | |
| Silver Lacquer | DODUCO GmbH | AUROMAL 38 | |
| Ultrasonic processor | Hielscher / sonotrode MS3 | UP50H |
References
- Forbes, R. G. Low-macroscopic-field electron emission from carbon films and other electrically nanostructured heterogeneous materials: hypotheses about emission mechanism. Solid-State Electronics. 45, 779-808 (2001).
- Wang, C., Garcia, A., Ingram, D. C., Lake, M., Kordesch, M. E. Cold field emission from CVD diamond films observed in emission electron microscopy. Electronics Letters. 27, 1459 (1991).
- Okano, K., Koizumi, S., Ravi, S., Silva, P., Amaratunga, G. Low-threshold cold cathodes made of nitrogen-doped chemical-vapour-deposited diamond. Nature. 381, 140-141 (1996).
- Geis, M. W., et al. A new surface electron-emission mechanism in diamond cathodes. Nature. 393, 431-435 (1998).
- Horch, S., Morin, R. Field emission from atomic size sources. Journal of Applied Physics. 74 (6), 3652-3657 (1993).
- Muller, H. U., Volkel, B., Hofmann, M., Woll, C., Grunze, M. Emission properties of electron point sources. Ultramicroscopy. 50 (1), 57-64 (1993).
- Qian, W., Scheinfein, M. R., Spence, J. C. H. Brightness measurements of nanometer-sized field-emission-electron sources. Journal of Applied Physics. 73 (11), 7041-7045 (1993).
- Rech, J. em, Grauby, O., Morin, R. Low-voltage electron emission from mineral films. Journal of Vacuum Science & Technology B. 20 (1), 5-9 (2002).
- Daineche, R., Degiovanni, A., Grauby, O., Morin, R. Source of low-energy coherent electron beams. Applied Physics Letters. 88, 023101 (2006).
- Salançon, E., Daineche, R., Grauby, O., Morin, R. Single mineral particle makes an electron point source. Journal of Vacuum Science & Technology B. 33, 030601 (2015).
- Prigent, M., Morin, P. Charge effect in point projection images of Ni nanowires and I collagen fibres. Journal of Physics D: Applied Physics. 34 (8), 1167-1177 (2001).
- Salançon, E., Degiovanni, A., Lapena, L., Lagaize, M., Morin, R. A low-energy electron point-source projection microscope not using a sharp metal tip performs well in long-range imaging. Ultramicroscopy. 200, 125-131 (2019).
- Salançon, E., Degiovanni, A., Lapena, L., Morin, R. High spatial resolution detection of low-energy electrons using an event-counting method, application to point projection microscopy. Review of Scientific Instruments. 89, 043301 (2018).
- Swanson, L. W., Crouser, L. C. Total-Energy Distribution of Field-Emitted Electrons and Single-Plane Work Functions for Tungsten. Physical Review. 163, 622 (1967).
