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Chemistry

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Präparation von Nanopartikeln für die ToF-SIMS- und XPS-Analyse
 
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Präparation von Nanopartikeln für die ToF-SIMS- und XPS-Analyse

Article DOI: 10.3791/61758-v
September 13th, 2020

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Summary September 13th, 2020

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Es werden verschiedene Verfahren zur Herstellung von Nanopartikeln für die Oberflächenanalyse vorgestellt (Tropfenguss, Spinbeschichtung, Abscheidung aus Pulvern und Kryofixierung). Wir diskutieren die Herausforderungen, Chancen und Anwendungsmöglichkeiten jeder Methode, insbesondere im Hinblick auf die Veränderungen der Oberflächeneigenschaften, die durch die verschiedenen Präparationsmethoden verursacht werden.

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