Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Engineering

This content is Open Access.

İletim Kikuchi difraksiyonu kullanılarak ultra-ince taneli ve Nanokristal Malzemelerin Karakterizasyonu
 
Click here for the English version

İletim Kikuchi difraksiyonu kullanılarak ultra-ince taneli ve Nanokristal Malzemelerin Karakterizasyonu

Article DOI: 10.3791/55506-v 09:13 min April 1st, 2017
April 1st, 2017

Chapters

Summary

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Bu çalışma, standart bir elektron geri yansıma difraksiyon sistemi ile donatılmış bir tarama elektron mikroskobu kullanılarak ultra-ince taneli ve nano malzemelerin mikro karakterize etmek için detaylı bir yöntem sağlar. Metal alaşımları ve rafine mikro yapılar sunan mineraller muhtemel uygulamaların çeşitliliğini gösteren bu tekniği kullanılarak analiz edilir.

Tags

Mühendislik Sayı 122 Mikroyapı Elektron Mikroskopi Nano kristalin malzemeler Ultra İnce Taneli Malzemeler İletim Kikuchi Kırınım Elektron Backscatter Kırınım Kristal Oryantasyon.
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter