単一のビリオン原子間力顕微鏡と超解像蛍光イメージングのサンプル調製
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January 02, 2014
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概要
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表面へのビリオンの付着は、超解像蛍光イメージングまたは原子間力顕微鏡(AFM)による単一のビリオンイメージングの要件です。ここでは、AFMおよび超解像蛍光イメージングでの使用に適したガラス表面へのビリオンの制御接着のためのサンプル調製方法を示す。
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Cite this Article
Hodges, J. A., Saffarian, S. Sample Preparation for Single Virion Atomic Force Microscopy and Super-resolution Fluorescence Imaging. J. Vis. Exp. (83), e51366, doi:10.3791/51366 (2014).
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