Nanotopologia adhezji komórek w badaniu z wykorzystaniem fluorescencyjnej mikroskopii całkowitego wewnętrznego odbicia pod zmiennym kątem (VA-TIRFM)

9.6K wyświetleń

Cytowany 7 razy

09:14 min

2 października 2012

10.3791/4133-v

2 października 2012

9.6K wyświetleń

Topologię adhezji komórek do podłoża mierzy się z nanometrową precyzją za pomocą mikroskopii fluorescencyjnej z całkowitym wewnętrznym odbiciem pod zmiennym kątem (VA-TIRFM).

Przeglądaj więcej filmów

TIRFM o zmiennym k cie

Chapters in this video

0:05

Title

1:40

Seeding and Incubation of Cells

2:47

VA-TIRFM

5:26

Data Analysis

6:45

Results: Calculation of Cell-substrate Distances in Glioblastoma Cells

8:32

Conclusion

Related Videos