Nanotopologia adhezji komórek w mikroskopii fluorescencyjnej o zmiennym kącie całkowitego wewnętrznego odbicia (VA-TIRFM)

9.6K views

Cited by 7

09:14 min

October 2nd, 2012

10.3791/4133-v

October 2nd, 2012

9.6K views

Topologia adhezji komórek na podłożu jest mierzona z nanometrową precyzją za pomocą mikroskopii fluorescencyjnej o zmiennym kącie całkowitego wewnętrznego odbicia (VA-TIRFM).

Explore More Videos

Variable Angle TIRFM

Chapters in this video

0:05

Title

1:40

Seeding and Incubation of Cells

2:47

VA-TIRFM

5:26

Data Analysis

6:45

Results: Calculation of Cell-substrate Distances in Glioblastoma Cells

8:32

Conclusion

Related Videos