Summary

用于原子化和抗波流体的厚度模式压电器件的制造和特性

Published: August 05, 2020
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Summary

介绍了通过锂硝酸锂板电极的直流溅射制造压电厚度模式传感器。此外,通过传感器支架和流体供应系统实现了可靠的操作,通过阻抗分析、激光多普勒振动测量、高速成像和激光散射液滴尺寸分布,可以证明表征。

Abstract

我们提出了一种使用锂尼奥巴特 (LN) 制造简单厚度模式压电器件的技术。与依靠雷利波和LN中的其他振动模式或铅硅酸盐(PZT)的器件不同,这些器件已被证明能够更有效地雾化液体,每个功率输入的流速。整个设备由传感器、传感器支架和流体供应系统组成。声液雾化的基本原理尚不清楚,因此还介绍了对器件进行特征化和研究这些现象的技术。激光多普勒振动测量 (LDV) 提供在比较声学传感器时必不可少的振动信息,在这种情况下,指示设备在厚度振动中是否表现良好。它还可用于查找器件的谐振频率,但此信息通过阻抗分析获得更快。连续流体雾化作为应用示例,需要仔细的流体流量控制,我们通过激光散射提供高速成像和液滴大小分布测量的方法。

Introduction

超声雾化研究已经近一个世纪了,虽然有许多应用,但理解基础物理存在局限性。伍德和卢米斯于1927年1月首次描述了这一现象,自那时以来,该领域的应用出现了发展,从提供气溶胶化药物液2到燃料喷射3。虽然这种现象在这些应用中效果良好,但基础物理学并没有被很好地理解为,4、5、6。,6

超声波雾化领域的一个关键限制是使用的材料的选择,铅硅酸盐(PZT),一种容易加热7和铅污染的元素铅从颗粒间边界8,9。,9颗粒尺寸和颗粒边界的机械和电子特性也限制了PZT可以操作10的频率。相比之下,镍酸锂既无铅,又无迟性11,可用于比商用雾化器12更有效地雾化流体数量级。在厚度模式下用于操作的锂镍酸的传统切口是36度Y旋转切割,但127.86度Y旋转,X-传播切割(128YX),通常用于表面声波生成,已证明具有更高的表面位移与36度切口13在共振和低损耗下操作时。还表明,厚度模式操作提供了一个数量级的提高雾化器效率比其他振动模式13,即使使用LN。

在厚度模式下运行的压电器件的谐振频率受其厚度t控制:波长= 2 t/n,其中 n = 1,2,…是反节点的数量。对于 500 μm 厚的基板,这对应于基本模式的波长为 1 mm,然后可用于计算基本共振频率,如果波速为λv , v ,则为已知值。通过 128YX LN 的厚度的声音速度约为 7,000 m/s,因此f = 7 MHz。与其他形式的振动不同,特别是表面绑定模式,它很容易激发高阶厚度模式谐波到更高的频率,在这里到250 MHz或更多,虽然只有奇数模式可能激发均匀的电场14。因此,14 MHz 附近的第二次谐波(n = 2) 不能激动,但 21 MHz(n = 3) 下的第三次谐波可以。制造高效的厚度模式器件需要将电极沉积到传感器的对面上。我们使用直流 (DC) 溅射来实现这一点,但可以使用电子束沉积和其他方法。阻抗分析可用于描述器件,特别是在发现这些频率的谐振频率和机电耦合方面。激光多普勒振动测量 (LDV) 可用于确定输出振动幅度和速度,无需接触或校准15,并且,通过扫描,LDV 提供表面变形的空间分布,揭示与给定频率相关的振动模式。最后,为了研究雾化和流体动力学,可以使用高速成像技术来研究毛细管波在表面的细管波下降16,17。,17在雾化中,与许多其他荧光素现象一样,小液滴的产生速度非常快,在给定位置超过 1 kHz,高速摄像机无法以足够的保真度和视场观察,无法在足够大的液滴样本量上提供有用的信息。激光散射可用于此目的,通过扩展的激光束将液滴传递到 (Mie) 将部分光线在反射和折射中散射,以产生可用于统计估计液滴大小分布的特征信号。

制造压电厚度模式传感器非常简单,但迄今为止文献中尚未明确说明器件和雾化特性所需的技术,妨碍了学科的进展。为了使厚度模式传感器在雾化装置中有效,必须机械地分离它,以便其振动不减震,并且它必须具有与雾化速率相等的连续流体供应,以便既不发生干燥或洪水。文献中没有全面涵盖这两个实际考虑,因为它们的解决办法是工程技术的结果,而不是纯粹的科学新颖性,但它们对于研究这一现象仍然至关重要。我们提出了一个传感器支架组件和一个液体吸芯系统作为解决方案。该协议为雾化器的制造和特性提供了一种系统化的方法,有助于在基础物理和无数应用中进行进一步的研究。

Protocol

1. 通过直流溅射制造厚度模式传感器 晶圆制备 将 100 mm 128YX LN 晶圆放在直径至少为 125 mm 的清洁玻璃盘中。在至少200 mL的丙酮中对晶圆进行声波化5分钟。 用异丙醇重复声波,再用去维水重复,每次5分钟。 使用干氮从表面去除可见水。 将晶圆以 100°C 的加热板上放置 5 分钟,完全去除表面的水。 电极沉积 将晶圆放在溅射沉积系统的真…

Representative Results

厚度模式压电装置由128YX锂镍酸制成。图 1显示了一个完整的组件,用于将传感器与用于连续雾化的被动流体输送系统的自定义传感器支架保持到位。这些器件的特性步骤包括使用阻抗分析仪确定谐振频率和谐波(图2)。使用本协议中描述的技术,发现器件的基本频率接近7 MHz,如基板厚度所预测的那样。使用非电性激光多普勒振动计测量,对基板振动…

Discussion

传感器的尺寸和纵横比会影响其产生的振动模式。由于横向尺寸是有限的,因此除了所需的厚度模式之外,始终有横向模式。上述 LDV 方法可用于确定给定传感器所需频率范围内的显性模式。尺寸低于 10 mm 的正方形通常与厚度模式接近。三个十毫米的矩形也工作得很好。影片 1 和影片 2显示方形的 LDV 区域扫描和 3 mm x 10 mm 传感器,表明它们接近厚度模式。这些方法是经验…

Disclosures

The authors have nothing to disclose.

Acknowledgements

作者感谢加州大学和加州大学圣地亚哥分校的NANO3设施为支持这项工作提供资金和设施。这项工作部分在UCSD的圣地亚哥纳米技术基础设施(SDNI)进行,该基础设施是国家纳米技术协调基础设施的成员,得到国家科学基金会(资助ECCS+1542148)的支持。这里介绍的工作得到了W.M.凯克基金会的研究补助金的慷慨支持。作者还感谢海军研究办公室(通过赠款12368098)对这项工作的支持。

Materials

Amplifier Amplifier Research, Souderton, PA, USA 5U1000
Articulating arm Fisso, Zurich, Switzerland
CF4 Objective Edmund Optics, Barrington, NJ, USA Objective used for high speed imaging
Dicing saw Disco, Tokyo, Japan Disco Automatic Dicing Saw 3220
Fiber Fragrance Diffuser Wick Weihai Industry Co., Ltd., Weihai, Shandong, China https://www.weihaisz.com/Fiber-Fragrance-Diffuser-Wick_p216.html
High Speed Camera Photron, San Diego, USA Fastcam Mini
Laser Doppler Vibrometer Polytec, Waldbronn, Germany UHF120 Non-contact laser doppler vibrometer
Laser Scattering Droplet size measurement system Malvern Panalytical, Malvern, UK STP5315
Lithium niobate substrate PMOptics,Burlington, MA, USA PWLN-431232 4” double-side polished 0.5 mm thick 128°Y-rotated cut lithium niobate
Luer-lock syringes Becton Dickingson, New Jersey, USA
Nano3 cleanroom facility UCSD, La Jolla, CA, USA Fabrication process is performed in it.
Network Analyzer Keysight Technologies, Santa Rosa, CA, USA 5061B
Oscilloscope Keysight Technologies, Santa Rosa, CA, USA InfiniiVision 2000 X-Series
PSV Acquistion Software Polytec, Waldbronn, Germany Version 9.4 LDV Software
PSV Presentation Software Polytec, Waldbronn, Germany Version 9.4 LDV Software
Signal generator NF Corporation, Yokohama, Japan WF1967 multifunction generator
Single Post Connector DigiKey, Thief River Falls, MN ED1179-ND
Sputter deposition Denton Vacuum, NJ, USA Denton 18 Denton Discovery 18 Sputter System
Surface Mount Spring Contacts DigiKey, Thief River Falls, MN 70AAJ-2-M0GCT-ND
Teflon wafer dipper ShapeMaster, Ogden, IL, USA SM4WD1 Wafer Dipper 4"
XYZ Stage Thor Labs, Newton, New Jersey, USA MT3 Optical table stages

References

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Vasan, A., Connacher, W., Friend, J. Fabrication and Characterization of Thickness Mode Piezoelectric Devices for Atomization and Acoustofluidics. J. Vis. Exp. (162), e61015, doi:10.3791/61015 (2020).

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