Journal
/
/
قياس الكم التدخل في المصدر السيليكون الدائري الرنان فوتون
JoVE Journal
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Measurement of Quantum Interference in a Silicon Ring Resonator Photon Source
DOI:

12:19 min

April 04, 2017

, , , , , ,

Chapters

  • 00:05Title
  • 00:34Photonic Chip Preparation
  • 02:24Preparation of Fiber Pigtails
  • 03:45Configuration of the Photonic Chip and Fibers
  • 06:09Dispersion Characterization
  • 08:42Measuring Two-photon Interference
  • 10:25Results: Interference and Bi-photon Visibility Measurement
  • 11:32Conclusion

Summary

Automatic Translation

السيليكون رقائق الضوئية لديها القدرة على تحقيق أنظمة الكم متكاملة معقدة. المقدمة هنا هي طريقة لإعداد واختبار رقاقة السيليكون الضوئية لقياس الكم.

Related Videos

Read Article