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Portador de por vida medidas en semiconductores a través del método de decaimiento de fotoconductividad de microondas
 
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Portador de por vida medidas en semiconductores a través del método de decaimiento de fotoconductividad de microondas

Article doi: 10.3791/59007
April 18th, 2019

Summary April 18th, 2019

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Como uno de los parámetros físicos importantes en semiconductores, vida de portador se mide aquí mediante un protocolo que emplea el método de decaimiento de fotoconductividad de microondas.

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