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Journal
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Chemistry
/
電子顕微鏡によるピソメーク精度原子位置追跡
JoVE Journal
Chemistry
Author Produced
This content is Free Access.
JoVE Journal
Chemistry
Picometer-Precision Atomic Position Tracking through Electron Microscopy
Please note that all translations are automatically generated.
Click here for the English version.
電子顕微鏡によるピソメーク精度原子位置追跡
DOI:
10.3791/62164-v
•
15:04 min
•
July 03, 2021
•
Leixin Miao
,
Adrian Chmielewski
,
Debangshu Mukherjee
,
Nasim Alem
1
Department of Materials Science & Engineering
,
The Pennsylvania State University
,
2
Center for Nanophase Materials Sciences
,
Oak Ridge National Laboratory
Chapters
00:00
Introduction
01:23
Acquiring High-Quality Annular Dark Field (ADF)/ Annular Bright Field (ABF) STEM Images
09:17
Physical Information Extraction
12:22
Representative Results
14:41
Conclusion
Summary
Automatic Translation
English (Original)
العربية (Arabic)
中文 (Chinese)
Nederlands (Dutch)
français (French)
Deutsch (German)
עברית (Hebrew)
italiano (Italian)
日本語 (Japanese)
한국어 (Korean)
português (Portuguese)
русский (Russian)
español (Spanish)
Türkçe (Turkish)
Automatic Translation
この研究は、原子分解能透過電子顕微鏡イメージングにおける原子位置追跡のワークフローを提示する。このワークフローは、オープンソースのMatlabアプリ(EASY-STEM)を使用して実行されます。
Tags
Atomic Position Tracking
Electron Microscopy
Aberration Correction
STEM Imaging
Atomic Resolution
Lattice Strain
Defects
Image Denoising
Drift Correction
Atom Column Quantification
Overlapping Atoms
MATLAB Application
EasySTEM
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