TEM Workflows, Results Analysis, and Data Management Using a Machine-Vision Approach

Summary

Automatic Translation

• English (Original)
• العربية (Arabic)
• 中文 (Chinese)
• dansk (Danish)
• Nederlands (Dutch)
• français (French)
• Deutsch (German)
• עברית (Hebrew)
• हिंदी (Hindi)
• italiano (Italian)
• 日本語 (Japanese)
• 한국어 (Korean)
• norsk (Norwegian)
• português (Portugese)
• русский (Russian)
• español (Spanish)
• svenska (Swedish)
• Türkçe (Turkish)

Hier presenteren we een protocol om machine-vision-software te gebruiken om dynamische processen tijdens TEM-beeldvorming te stabiliseren, terwijl tegelijkertijd meerdere stromen metadata naar elke afbeelding worden geïndexeerd in een navigeerbare tijdlijn. We laten zien hoe dit platform geautomatiseerde kalibratie en mapping van de elektronendosis in de loop van een experiment mogelijk maakt.