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Localização de Defeitos Subsuperficiais por Aquecimento Estruturado usando a Termografia Fototérmica Projetada a Laser
 
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Localização de Defeitos Subsuperficiais por Aquecimento Estruturado usando a Termografia Fototérmica Projetada a Laser

Article DOI: 10.3791/55733-v 11:34 min May 15th, 2017
May 15th, 2017

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Este método tem como objetivo a localização de defeitos de subsuperfície verticais. Aqui, acoplamos um laser com um modulador de luz espacial e disparamos a sua entrada de vídeo para aquecer uma superfície de amostra deterministicamente com duas linhas moduladas anti-fase enquanto adquirimos imagens térmicas altamente resolvidas. A posição de defeito é recuperada da avaliação dos mínimos de interferência de ondas térmicas.

Tags

Engenharia Edição 123 Termografia Ativa Aquecimento Estruturado Fototérmico Dispositivo Digital Micromirror Modulador de Luz Espacial Campo de Onda Térmica Defeito Subterrâneo
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