/
/
Метод подготовки образцов сканирующего и трансмиссионного электронного микроскопа для придатков woodboring Beetle
A subscription to JoVE is required to view this content. Sign in or start your free trial.
1The Key Laboratory for Silviculture and Conservation of the Ministry of Education, School of Forestry,Beijing Forestry University, 2School of Forestry,Inner Mongolia Agricultural University, 3Institute of Medicinal Plant Development,Chinese Academy of Medical Sciences and Peking Union Medical College, 4School of Forestry,Fujian Agriculture and Forestry University
Chapters
- 00:05Introduction
- 01:23SEM Sample Preparation and Imaging
- 04:40TEM Sample Preparation and Imaging
- 08:26Results: SEM and TEM
- 09:42Conclusion
Для наблюдения за ультраструктурой сенсильи насекомых в исследовании были представлены протокол подготовки образцов сканирующего и трансмиссионной электронной микроскопии (SEM и TEM, соответственно). Tween 20 был добавлен в фиксатор, чтобы избежать деформации образца в SEM. Флуоресценция микроскопия была полезна для повышения точности нарезки в TEM.
