Sondering av ytelektrokemisk aktivitet hos nanomaterial med hjälp av ett hybridmikroskopscanningselkemiskt mikroskop (AFM-SECM)

Atomkraftmikroskopi (AFM) i kombination med scanning av elektrokemisk mikroskopi (SECM), nämligen AFM-SECM, kan användas för att samtidigt förvärva högupplöst topografisk och elektrokemisk information om materialytor i nanoskala. Sådan information är avgörande för att förstå heterogena egenskaper (t.ex. reaktivitet, defekter och reaktionsplatser) på lokala ytor av nanomaterial, elektroder och biomaterial.