使用混合原子力显微镜扫描电化学显微镜（AFM-SECM）探测纳米材料的表面电化学活性

原子力显微镜 （AFM） 与扫描电化学显微镜 （SECM） 相结合，即 AFM-SECM，可用于同时获取纳米级材料表面的高分辨率地形和电化学信息。这些信息对于了解纳米材料、电极和生物材料的局部表面的异质特性（例如反应、缺陷和反应位点）至关重要。