原子力显微镜 (AFM) 与扫描电化学显微镜 (SECM) 相结合,即 AFM-SECM,可用于同时获取纳米级材料表面的高分辨率地形和电化学信息。这些信息对于了解纳米材料、电极和生物材料的局部表面的异质特性(例如反应、缺陷和反应位点)至关重要。