Journal
/
/
Оптимизация разрешения и чувствительности магнитно-силовой микроскопии для визуализации наноразмерных магнитных доменов
JoVE Journal
Engineering
Author Produced
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Engineering
Optimizing Magnetic Force Microscopy Resolution and Sensitivity to Visualize Nanoscale Magnetic Domains
DOI:

07:42 min

July 20, 2022

, , , ,

Chapters

  • 00:04Introduction
  • 01:00MFM Probe Preparation and Installation
  • 02:35Sample Preparation, Installation, and Sample Approach
  • 03:27Topography Imaging
  • 04:33MFM Imaging
  • 06:23Results: MFM Imaging of Magnetic Twin Boundaries in a Single Crystal Ni-Mn-Ga Sample
  • 06:58Conclusion

Summary

Automatic Translation

Магнитно-силовая микроскопия (MFM) использует вертикально намагниченный атомно-силовой микроскопический зонд для измерения топографии образца и напряженности локального магнитного поля с наноразмерным разрешением. Оптимизация пространственного разрешения и чувствительности MFM требует балансировки уменьшающейся высоты подъема с увеличением амплитуды привода (колебаний) и преимущества работы в перчаточном ящике в инертной атмосфере.

Related Videos

Read Article