使用Quattro-Parallel 悬臂阵列的主动探针原子力显微镜,用于高通量大规模样品检测

2.6K views

Cited by 5

05:04 min

June 13th, 2023

10.3791/65210-v

June 13th, 2023

2.6K views

具有纳米级分辨率的大规模样品检测具有广泛的应用,特别是对于纳米制造的半导体晶圆。原子力显微镜可以成为实现这一目标的绝佳工具,但受到其成像速度的限制。这项工作利用原子力显微镜中的并行有源悬臂阵列来实现高通量和大规模检测。

Explore More Videos

Atomic Force Microscopy

Chapters in this video

0:00

Introduction

1:23

Instrument Calibration, Experimental Setup, and Parameter Tuning for Semiconductor Wafer Topography Imaging with AFM

Related Videos