June 13th, 2023
具有纳米级分辨率的大规模样品检测具有广泛的应用,特别是对于纳米制造的半导体晶圆。原子力显微镜可以成为实现这一目标的绝佳工具,但受到其成像速度的限制。这项工作利用原子力显微镜中的并行有源悬臂阵列来实现高通量和大规模检测。
基于新型微机电系统探头的扫描探针显微镜称为主动悬臂。与无源悬臂相比,集成驱动和传感的悬臂具有多项优势,无源悬臂依赖于压电激励和光束偏转测量。该领域的最新发展是实现用于高通量并行SPM成像的有源悬臂阵列。
有源悬臂阵列使用集成压阻式传感器,提供与光学读出方法相当的灵敏度,没有衍射限制,从而允许更小、更软、更紧凑的 AFM 探针。该技术的结果为使用高速多通道电子设备操作和构建高通量原子力显微镜铺平了道路。该技术的进步可以促进未来大规模并联主动悬臂系统的更快、更可靠的运行。
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本研究探讨了在原子力显微镜(AFM)中使用主动悬臂阵列以提高大规模样品检测的成像速度和吞吐量。悬臂中微机电系统的集成使扫描探针显微镜的灵敏度和效率得到了提高。