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我们展示了如何使用拉曼光谱法采用一种解析定义的多声子粒子约束模型,以确定以定量方式的半导体纳米晶体的尺寸分布。得到的结果与像透射电子显微镜和光致发光光谱的其它大小分析技术非常吻合。