JoVE Journal
Engineering
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.
You will only be able to see the first 2 minutes.
Chapters
Summary August 22nd, 2015
Please note that all translations are automatically generated.
Biz analitik tanımlanan çoklu parçacık fonon hapsi modeli kullanılarak Raman spektroskopisi kullanılarak nicel bir şekilde yarı iletken nanokristallerin büyüklüğü dağılımını belirlemek için nasıl gösterilmektedir. Elde edilen sonuçlar transmisyon elektron mikroskobu ve fotoluminesans spektroskopisi gibi diğer boyut analiz teknikleri ile mükemmel bir uyum içindedir.
