Kowalencyjne przyłączanie pojedynczych cząsteczek do spektroskopii sił opartej na AFM

11.9K wyświetleń

Cytowany 3 razy

10:37 min

16 marca 2020

10.3791/60934-v

16 marca 2020

11.9K wyświetleń

Kowalencyjne dołączanie cząsteczek sondy do końcówek wsporników mikroskopii sił atomowych (AFM) jest niezbędną techniką do badania ich właściwości fizycznych. Dzięki temu możemy określić siłę rozciągania, siłę desorpcji i długość polimerów za pomocą spektroskopii sił pojedynczych cząsteczek opartej na AFM o wysokiej odtwarzalności.

Przeglądaj więcej filmów

Spektroskopia si pojedynczych cz steczek

Chapters in this video

0:04

Introduction

0:52

Surface Activation, Silanization, and PEGylation

3:03

Covalent Polymer Attachment

4:21

Determining the Inverse Optical Lever Sensitivity (InVOLS)

6:13

Determining the AFM Cantilever Force Constant

7:06

Data Collection

8:10

Results: Single-Molecule Stretching and Desorption

9:44

Conclusion

Related Videos